Team Se@Msi: Meranie v softvérovom inžinierstve. - FIIT STU ...
Team Se@Msi: Meranie v softvérovom inžinierstve. - FIIT STU ...
Team Se@Msi: Meranie v softvérovom inžinierstve. - FIIT STU ...
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
<strong>Meranie</strong> v etape návrhu 105<br />
Pomocou metriky zviazanosti medzi dvomi modulmi sa odvádza<br />
metrika zviazanosti celého systému, ktorá je definovaná ako medián<br />
zviazanosti všetkých modulov systému. Takto definovaná metrika<br />
nespĺňa axiómy pre zviazanosť podľa [Briand a kol., 1995].<br />
Zviazanosť na základe interakcií<br />
V [Briand a kol., 1994] sa skúmajú závislosti medzi dátovými<br />
deklaráciami v rozličných moduloch alebo dátovou deklaráciou<br />
a podprogramom v inom module. Tieto závislosti sú nazvané<br />
interakciami a definované boli dva typy:<br />
• Interakcia typu Dátová deklarácia – Dátová deklarácia (DD).<br />
Dátová deklarácia (DD) A interaguje s dátovou deklaráciou B práve<br />
vtedy, ak zmena deklarácie alebo použitia A zapríčiní potrebu zmeny<br />
deklarácie alebo použitia B.<br />
• Interakcia typu Dátová deklarácia - Podprogram (DS). Dátová<br />
deklarácia interaguje s podprogramom, ak interaguje aspoň s jednou<br />
z jeho dátových deklarácií.<br />
Na základe týchto dvoch typov interakcií sú definované metriky pre<br />
zviazanosť sofvérovej súčiastky:<br />
• Vstupná zviazanosť (import coupling) IC softvérovej súčiastky sp je<br />
počet interakcií typu DD medzi vonkajšími a vnútornými dátovými<br />
deklaráciami vzhľadom na sp.<br />
• Výstupná zviazanosť (export coupling) EC softvérovej súčiastky sp je<br />
počet interakcií typu DD medzi vnútornými a vonkajšími dátovými<br />
deklaráciami vzhľadom na sp.<br />
Uvedené metriky boli experimentálne použité na identifikovanie<br />
softvérových súčiastok náchylných k chybám. Overené boli na troch<br />
systémoch NASA na podporu satelitov implementovaných v jazyku ADA.<br />
Výsledky experimentu, ktorý zahŕňal aj iné metriky, poukazovali na to, že<br />
metriky založené na výstupoch z modulu (medzi nimi aj EC) nie sú<br />
významnými ukazovateľmi náchylnosti modulov k chybám. Metriky<br />
založené na vstupoch do modulu (kde patrí aj IC) sa osvedčili ako presné<br />
ukazovatele náchylnosti modulov k chybám.<br />
Metriky pre súdržnosť<br />
Pojem súdržnosť sa v [IEEEGLOSS] definuje ako miera, v akej úlohy<br />
vykonávané jedným modulom medzi sebou závisia a spôsob, na ktorý<br />
závisia. V literatúre môžeme nájsť aj iné definície súdržnosti, ako sú<br />
napríklad: miera, v akej sú funkcie alebo elementy spracovania vo vnútri<br />
modulu medzi sebou spojené, alebo miera, v akej sú komponenty<br />
štruktúry modulu zjednotené v podpore vykonávania jeho funkcie.<br />
Súdržnosť na základe interakcií<br />
Pri tejto metrike sa pozorujú interakcie typu DD a DS vo vnútri modulu.<br />
Definuje sa množina súdržných interakcií CI modulu m ako zjednotenie