Dokument 1.pdf - RWTH Aachen University
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3.1 Fähigkeiten der Kombinationsapparatur<br />
komplett vermeiden.<br />
3.1.5 Navigation der RTM-Tunnelspitzen mittels<br />
REM-Kontrolle<br />
Um die Tunnelspitzen des Multispitzen RTM-Systems kontrolliert zu navigieren verwendet<br />
man ein eingebautes REM. Eine REM-Übersicht der vier Tunnelspitzen kann<br />
man in der Abbildung 3.7(a) sehen. Bei der Navigation der Tunnelspitzen in einer<br />
lateralen Richtung sollte man besonders vorsichtig sein. Eine grobe Verschiebung<br />
der Rasterringe ruft wegen des oben genannten und beschriebenen „slip-stick“ Prinzips<br />
eine mechanische Vibration der sich bewegenden Tunnelspitze hervor. Wenn<br />
die Tunnelspitzen nah genug zusammengeführt sind (ca. 1 µm), werden diese nur<br />
durch eine Ablenkung des Piezoscanner bewegt. Wenn eine Tunnelspitze nicht genug<br />
vorausschauend bewegt wird, kann sie dabei die andere Tunnelspitze versehentlich<br />
berühren. Die Berührung der Tunnelspitzen ruft zumeist ein Verbiegen der Spitzenenden<br />
hervor. Die verbogenen Tunnelspitzen (in der Abbildung 3.7(b)) können dann<br />
nicht weiter eingesetzt werden, weil ein Zusammenführen der verbogenen Tunnelspitzen<br />
wegen der Spitzengeometrie unmöglich ist. Hier ist ein Vorteil der Kombination<br />
eines REM mit einem RTM zu erkennen. Eine defekte Tunnelspitze kann in dieser<br />
Kombination rechtzeitig erkannt und ausgewechselt werden.<br />
In einem einzelnen REM ist die Differenzierung, ob eine Tunnelspitze sich höher<br />
oder tiefer relativ zu den anderen Tunnelspitzen befindet, nicht ohne weiteres möglich.<br />
Beim Einstellen des Fokus der Elektronensäule (Arbeitsspannung der Linse 2)<br />
wird nur eine Fokalebene als scharf dargestellt. Die Objekte, die nicht in der Fokalebene<br />
liegen werden als unscharf dargestellt. Um die Höhenposition der Objekte<br />
in diesem Fall zu unterscheiden, sollte man die Fokuseinstellung verändern, um die<br />
Fokussierungsrichtung bestimmen zu können. Man stellt zuerst einen Fokus der Elektronensäule<br />
auf die Probe scharf. Sodann wird der Fokus derart verändert, bis die<br />
erste Tunnelspitze als scharf erscheint. Diese Tunnelspitze befindet sich dann näher<br />
zur Probe als die andere. Nun verschiebt man die Fokalebene weiter von der Probe<br />
weg. Die nächst höher liegende Tunnelspitze wird als scharf abgebildet, usw. Durch<br />
diese Methode können die Tunnelspitzen übereinander navigiert werden ohne sich<br />
gegenseitig zu berühren.<br />
Während dieser Arbeit wurde ein Versuch mit der verbogener Tunnelspitze unternommen.<br />
Die verbogene Tunnelspitze wurde mit der oben beschriebenen Methode so<br />
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