Modulhandbuch Studiengang Micro Systems and Nano Technologies
Modulhandbuch Studiengang Micro Systems and Nano Technologies
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<strong>Modulh<strong>and</strong>buch</strong> - <strong>Micro</strong> <strong>Systems</strong> <strong>and</strong> <strong>Nano</strong> <strong>Technologies</strong> (MNT09-MA) - Master of<br />
Engineering<br />
Umfang: ECTS P.: 2 / SWS: 2V/Ü<br />
max. Teiln.: 10<br />
Verantwortliche Dozenten: Prof. Dr.-Ing. Wolfgang Kubitzki<br />
Veranstaltung Spezielle Übungen zur 3D-CAD<br />
Veranstaltungsnummer: Kurzzeichen: Semester: 2 WS<br />
Inhalt: Bearbeitung und Lösung ausgewählter Konstruktionsaufgaben<br />
mittels des 3D-CAD Programmsystems I-DEAS.<br />
Veranstaltung Spezielle Übungen zur Finiten-Elemente-Methode<br />
Veranstaltung Oberflächenmesstechnik<br />
Inhalt:<br />
Einleitung, Modellierungstechniken, erweiterte<br />
Baugruppenmodellierung (Assembly Technologie, assoziative und<br />
nichtassoziative Zeichnungserstellung, fortgeschrittene<br />
Konstruktionsprojekte.<br />
Präsenzzeit: 45 Stunden Präsenzzeit<br />
Umfang: ECTS P.: 4 / SWS: 4S<br />
max. Teiln.: 15<br />
Verantwortliche Dozenten: Prof. Dr.-Ing. Patrick Klär<br />
Veranstaltungsnummer: Kurzzeichen: Semester: 2 WS<br />
Inhalt: Bearbeitung und Lösung ausgewählter Aufgabenstellungen<br />
mittels der Finiten-Elemente-Methode (FEM).<br />
Inhalt:<br />
Einleitung, Vernetzungsstrategien, Auswahl geeigneter Finite-<br />
Elemente für MST-Anwendungen, Reduzierung des<br />
Modellierungsaufw<strong>and</strong>es durch Ausnutzung von Symmetrien,<br />
Gebrauch von Balkenelementen, Berechnung Thermischer<br />
Eigenspannung, Anisotrope Werkstoffmodellierung,<br />
Auswertestrategien.<br />
Präsenzzeit: 45 Stunden Präsenzzeit<br />
Umfang: ECTS P.: 4 / SWS: 4S<br />
max. Teiln.: 15<br />
Verantwortliche Dozenten: Prof. Dr.-Ing. Patrick Klär<br />
Veranstaltungsnummer: Kurzzeichen: Semester: 2 WS<br />
Inhalt: Kennenlernen der wichtigsten Methoden zur mikroskopischen<br />
Charakterisierung von Oberflächen: Optische Mikroskopie,<br />
Elektronenmikroskopie, Rastersondenmikroskopie;<br />
Kennzahlen zur Charakterisierung von rauen Oberflächen und ihr<br />
Einfluß auf optische Messungen.<br />
Studienbehelfe / Literatur: Schröder: Technische Optik, Vogel Fachbuch, ISBN: 3-8023-<br />
0067-X<br />
Naumann, Schröder: Bauelemente der Optik, Hanser Verlag,<br />
ISBN: 3-446-17036-7<br />
Flegler, Heckman, Klomparens: Elektronenmikroskopie, Spektrum<br />
Verlag, ISBN: 3-86025-341-7<br />
Alex<strong>and</strong>er: Grundlagen der Elektronenmikroskopie, Teubner<br />
Verlag, ISBN: 3-519-03221-X<br />
A practical Guide to Scanning Probe <strong>Micro</strong>scopy, Park Scientific<br />
Instruments<br />
Skoog, Leary: Instrumentelle Analytik, Springer Verlag, ISBN:3-<br />
540-60450-2<br />
Ehrfeld (Hrsg.) H<strong>and</strong>buch Mikrotechnik. Hanser Verlag, ISBN: 3-<br />
446-21506-9<br />
Sorg: Rauheitsmessung und Oberflächenbeurteilung, Hanser<br />
Verlag, ISBN: 3-446-17528-8<br />
Lehrsprache: Deutsch<br />
Seite 45
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