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Modulhandbuch Studiengang Micro Systems and Nano Technologies

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<strong>Modulh<strong>and</strong>buch</strong> - <strong>Micro</strong> <strong>Systems</strong> <strong>and</strong> <strong>Nano</strong> <strong>Technologies</strong> (MNT09-MA) - Master of Engineering<br />

Veranstaltung Mikro- und <strong>Nano</strong>elektronische Bauelemente - <strong>Micro</strong>electronic <strong>and</strong> <strong>Nano</strong>electronic Devices<br />

(MN 02-2)<br />

Studienbehelfe / Literatur: Richard Feynman: Es ist so einfach, Kap.5, Piper Verlag, ISBN: 3-<br />

492-04251-1<br />

Horst Günter Rubahn: <strong>Nano</strong>physik und <strong>Nano</strong>technologie, Teubner<br />

Verlag, ISBN: 3-519-00331-7<br />

Michael Köhler: <strong>Nano</strong>technologie, Wiley-VCH, ISBN: 3-527-30127-<br />

5<br />

Wolfgang Fahrner: <strong>Nano</strong>technologie und <strong>Nano</strong>prozesse, Springer<br />

Verlag, ISBN: 3-540-44212-X<br />

Flegler, Heckman, Klomparens: Elektronenmikroskopie, Spektrum<br />

Verlag, ISBN: 3-86025-3417<br />

Alex<strong>and</strong>er, Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie,<br />

Teubner Verlag, ISBN-10: 351903221X, ISBN-13: 978-3519032212<br />

A practical Guide to Scanning Probe <strong>Micro</strong>scopy, Park Scientific<br />

Instruments<br />

Lehrsprache: Deutsch<br />

Präsenzzeit: 23 Stunden Präsenzzeit<br />

Umfang: ECTS P.: 2 / SWS: 2V<br />

Verantwortliche Dozenten: Prof. Dr. Peter Pokrowsky<br />

Veranstaltungsnummer: MN 02-2 Kurzzeichen: Semester: 2 WS<br />

Inhalt: Ladungsträgerkonzentration und Leitfähigkeit in undotierten und<br />

dotierten Halbleitern;<br />

Driftströme und Diffusionsströme;<br />

Ableitung der Diodengleichung und Abweichungen von der idealen<br />

Diodengleichung;<br />

Kapazitäts-, Temperatur- und Durchbruchverhalten von Dioden;<br />

Metall-Halbleiter-Übergang (Schottky-Diode);<br />

Ohmsche Kontakte;<br />

Ableitung der Transistorgleichungen von Bipolar- und MOS-<br />

Transistoren; Abweichungen von den idealen<br />

Transistorgleichungen;<br />

Kapazitäts-, Temperatur- und Durchbruchverhalten von Bipolarund<br />

MOSTransistoren;<br />

Heterobipolartransistoren als Anwendung von Halbleiter-<br />

Heterostrukturen; Kurzkanaleffekte von MOSFETs, CMOS-<br />

Transistoren und CMOS-Scaling;<br />

Design und Technologie von Sub-100nm Transistoren;<br />

Elektronische Speicherbauelemente (flüchtig und nichtflüchtig);<br />

Quantum-Wells, Quantum-Wires, Quantum-Dots;<br />

Single-electron Devices;<br />

Resonante Tunnel-Elektroden.<br />

charge carrier concentration <strong>and</strong> conductivity in undoped <strong>and</strong><br />

doped semiconductors;<br />

drift currents <strong>and</strong> diffusion currents;<br />

basic current-voltage equation, important second order effects,<br />

capacitance, temperature effects <strong>and</strong> breakdown phenomena of<br />

diodes;<br />

Schottky Diodes;<br />

metal-semiconductor contacts;<br />

Basic current-voltage equation, important second order effects,<br />

capacitance, temperature effects, <strong>and</strong> breakdown phenomena of<br />

bipolar-transistors <strong>and</strong> MOSFET-transistors;<br />

heterobipolar transistors as application of semiconductor<br />

heterostructures;<br />

short channel effects of CMOS-transistors <strong>and</strong> CMOS-scaling;<br />

Device design <strong>and</strong> technology of sub-100nm transistors; memory<br />

devices (volotile <strong>and</strong> nonvolotile) <strong>and</strong> device scaling;<br />

quantum-wells, quantum-wires, quantum-dots;<br />

resonant tunneling diodes.<br />

Seite 9

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