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Les défaillances extrinsèques sont, quant à elles, associées aux contraintes que subissent les
composants et ont en général pour origine une mauvaise utilisation ou implémentation de ces
derniers dans un système. Ainsi, les niveaux ou consignes imposés par le fabricant se trouvent
dépassés sur le plan électrique, thermique ou chimique. La responsabilité incombe, par
conséquent, à l'utilisateur de ces composants.
D'après A. Birolini [BIR-99], le pourcentage des défaillances intrinsèques et extrinsèques
survenues sur une étude portant sur des composants électroniques de petite puissance, sont
respectivement de 60% et 40%.
De ces deux modes de défaillances découlent les termes de fiabilité intrinsèque et extrinsèque,
rencontrées dans la littérature spécialisée [JEN-95, CIA-OI].
Ajoutons une autre remarque à ce paragraphe concernant la fonction de distribution de
probabilité, notée F(t). Différentes équations peuvent être employées en électronique, de la
plus connue dans le domaine statistique, la loi exponentielle, à la plus appropriée à
l'électronique, la loi de Weibull. La loi exponentielle a la particularité de donner un taux de
défaillance constant, à la différence de la loi de Weibull.
Loi exponentielle: F(t) = 1- e-À-I Loi de Weibull : F(t) = 1-e-(I/'ll
Où À est le taux de défaillance constant, 11 est un paramètre appelé pente de Weibull, 13 est un
paramètre qui traduit le vieillissement (13 ], viei Il issement).
Au cours de la vie d'un composant ou de tout autre matériel, on peut distinguer 3 phases
distinctes suivant les défaillances apparues sur le composant. La figure 17 illustre cette
constatation en présentant la courbe du taux de défaillance en fonction du temps pour un
grand nombre de composants [BAC-98]. Cette courbe statistique s'établie d'après des bases
de données tirées des relevés des défaillances, intrinsèques comme extrinsèques, survenues
sur des composants.
taux de
défaillance
l(t)
1 II
III age
'-----"-----------.t
Fig.i7: Courbe de défaillance enfonction du temps
-phase J, fonction décroissante dans le temps correspondante à des défauts de jeunesse
principalement dus à des problèmes au niveau de la conception du produit.
-phase Ir, fonction quasiment constante du temps correspondant à la période dite de
"vie utile". La fonction de distribution est de type exponentielle, ainsi À(t) est
égale à une constante notée À.
-phase In, fonction croissante dans le temps, correspondant à des phénomènes de
dégradation (usure, fatigue...)
Dans le cas de l'étude de défaillances pouvant survenir sur des composants électroniques, la
phase III semble être la plus propice à la détermination de la durée de vie.
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