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Ce document numérisé est le fruit d'un long travail approuvé par le ...

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Chapitre IJ : Estimation de la durée de vie de modu<strong>le</strong>s IGBT pour un véhicu<strong>le</strong> hybride<br />

9.2.3 Cyc<strong>le</strong>s <strong>long</strong>s et cyc<strong>le</strong>s courts<br />

Pour ce qui <strong>est</strong> des zones de l'empi<strong>le</strong>ment que l'on veut fatiguer, il <strong>est</strong> clairement<br />

établi que trois interfaces sont <strong>par</strong>ticulièrement sensib<strong>le</strong>s à ces essais de cyclage. Il s'agit de la<br />

puce silicium, siège des pertes Jou<strong>le</strong>s et sensib<strong>le</strong> au niveau de température, des fils de<br />

bonding, soudés avec une méthode ultrasonique sur la métallisation de la puce et qui sont<br />

soumis à de fortes densités de courant (plusieurs centaines d'ampères <strong>par</strong> mm 2 ), et enfin de la<br />

brasure céramique-semel<strong>le</strong>, sujette à la délamination lorsque des variations thermiques<br />

agissent sur une grande <strong>par</strong>tie de la vie du composant. <strong>Ce</strong>s trois zones définissent ainsi <strong>le</strong> type<br />

d'essai à appliquer sur <strong>le</strong>s composants; un cyclage <strong>long</strong>, ou un cyclage court.<br />

Dans <strong>le</strong> cas où nous voulons t<strong>est</strong>er la tenue à la fatigue thermique des couches supérieures de<br />

l'empi<strong>le</strong>ment, nous réalisons un cyclage possédant des phases courtes (1 à 2s) ce qui conduit à<br />

des résultats rapides puisque dans <strong>le</strong> cas <strong>d'un</strong> cyclage 1s ON - 2s OFF, environ 29000<br />

cyc<strong>le</strong>s/jours peuvent être effectués.<br />

Par contre si nous souhaitons évaluer la tenue à la fatigue de la brasure, il <strong>est</strong> nécessaire<br />

d'augmenter ce temps Uusqu'à plusieurs dizaines de secondes) pour permettre au flux de<br />

cha<strong>le</strong>ur d'atteindre <strong>le</strong>s couches <strong>le</strong>s plus basses et permettre ainsi l'ap<strong>par</strong>ition de gradient de<br />

température dans cette zone. Dans ce cas, il <strong>est</strong> évident que <strong>le</strong>s essais seront de plus <strong>long</strong>ue<br />

durée puisque avec un cyc<strong>le</strong> 25s On-50s OFF, seu<strong>le</strong>ment 1152 cyc<strong>le</strong>s thermiques/jours<br />

pourront être effectués.<br />

9.2.4 Système de refroidissement<br />

<strong>Ce</strong>s bancs sont équipés <strong>d'un</strong>e circulation d'eau. Ils permettent ainsi l'évacuation de<br />

l'énergie calorifique accumulée dans <strong>le</strong> modu<strong>le</strong> durant la phase de chauffage grâce à<br />

l'utilisation <strong>d'un</strong> refroidisseur à eau pour chaque composant sous t<strong>est</strong>. <strong>Ce</strong>s boîtes à eau, en<br />

cuivre, possèdent une circulation d'eau origina<strong>le</strong> qui favorise l'uniformité de la température<br />

de semel<strong>le</strong> et évite ainsi <strong>le</strong>s forts gradients de température sur la surface supérieure de cette<br />

interface. C'<strong>est</strong> grâce à l'intercalation des canaux d'arrivée et d'évacuation du fluide que cette<br />

caractéristique <strong>est</strong> obtenue. De plus amp<strong>le</strong>s informations peuvent être trouvées dans <strong>le</strong><br />

mémoire de thèse d'Hamidi.<br />

9.2.5 Mise en série des puces IGBT<br />

Les modu<strong>le</strong>s que nous t<strong>est</strong>ons et qui sont présentés au <strong>par</strong>agraphe 3 de ce chapitre sont<br />

des modè<strong>le</strong>s DUAL, avec 2 IGBT <strong>par</strong> modu<strong>le</strong> et <strong>le</strong>ur diode en anti-<strong>par</strong>allè<strong>le</strong>. Même si la<br />

structure physique de l'empi<strong>le</strong>ment <strong>est</strong> identique pour <strong>le</strong>s IGBT et pour <strong>le</strong>s diodes, ces<br />

dernières sont moins sensib<strong>le</strong>s au cyclage du point de vue é<strong>le</strong>ctrique. Par conséquent <strong>le</strong> choix<br />

de faire uniquement cyc<strong>le</strong>r <strong>le</strong>s IGBT s'<strong>est</strong> présenté naturel<strong>le</strong>ment. Ainsi <strong>le</strong>s deux IGBT du<br />

modu<strong>le</strong>, représentant un bras d'ondu<strong>le</strong>ur, sont continuel<strong>le</strong>ment commandés, permettant au<br />

courant de cyclage de circu<strong>le</strong>r dans <strong>le</strong>s deux puces à la fois. Néanmoins, <strong>le</strong>s caractéristiques<br />

é<strong>le</strong>ctriques, de chaque puce présente dans <strong>le</strong> modu<strong>le</strong>, IGBT et diode, ont été re<strong>le</strong>vées.<br />

9.2.6 Conditions de cyclage<br />

Comme nous avons pu <strong>le</strong> détail<strong>le</strong>r en fin du chapitre précédent, <strong>le</strong> power cycling se<br />

compose de trois phases thermiquement différentes, mais identiques du point de vue temporel.<br />

Ainsi, puisque nos bancs sont composés de trois postes de cyclage, représentant <strong>le</strong>s trois<br />

phases, chaque type d'essais <strong>est</strong> appliqué sur un nombre de trois composants. Bien entendu,<br />

ce nombre de composants sous t<strong>est</strong> <strong>est</strong> faib<strong>le</strong>, mais devant l'inv<strong>est</strong>issement en terme de temps<br />

et de <strong>travail</strong> nécessaire à ces essais, il ne nous a pas été permis d'augmenter ce nombre.<br />

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