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Catálogo - Pós-Graduação - ITA

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frequência ideal. Transdutores e sistemas de condicionamento de sinais;<br />

amplificação, filtragem e ruído. Transdutores de força, pressão, aceleração,<br />

deslocamento, velocidade e fluxo. Transdutores de temperatura fundamentos<br />

de sensores e transdutores ópticos. Conversores A/D e D/A. Sistemas de<br />

aquisição de dados e transmissão de dados em instrumentação. Bibliografia:<br />

WEBSTER, J.G. (Editor), Measurement, Instrumentation and Sensors, Capman<br />

and Hall/CRC netBase, 1999; BENTLEY, J.P., Principles of Measurement<br />

Systems, 2. ed., John Wiley, New York, 1988; DOEBELIN, E.O., Measurement<br />

systems: application and design, 3. ed., McGraw-Hill, New York, 1983.<br />

MP-237/2007 – Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial<br />

Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />

3-0-5. Fundamentos em metrologia: definições gerais; unidades de medida e<br />

padrões internacionais; princípios básicos; erros de medição; sistemas de<br />

medição; calibração de sistemas de medição; resultados de medições diretas;<br />

resultados de medições indiretas; propagação de incertezas. Metrologia<br />

industrial: controle de qualidade; seleção de sistemas de medição;<br />

confiabilidade de processos na indústria. Instrumentos para medição:<br />

medidores de deslocamento, projetor de perfil, instrumentos auxiliares,<br />

medição de rugosidade, sistemas de medição por coordenadas, medição a<br />

laser. Tópicos de projeto: tolerâncias e ajustes; tolerância geométrica;<br />

acabamento superficial; GD & T (gerenciamento de tolerâncias e<br />

dimensionamento geométrico). Bibliografia: ALBERTAZZI, A., Fundamentos<br />

de metrologia científica e industrial. [S.l.]: Ed. Manole, 2005; DOEBLIN, E. O.<br />

Measurements Systems: Application and Design. New York: McGraw Hill, 2003;<br />

DRAKE, P. J. Dimensioning and tolerancing handbook. New York: McGraw Hill,<br />

1999.<br />

MP-242/2007 - Vibrações Mecânicas<br />

Requisito recomendado: MPD-171. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />

3-0-6. Vibrações livres e forçadas de sistemas a parâmetros concentrados.<br />

Modelagem dinâmica de sistemas vibracionais com múltiplos graus de<br />

liberdade. Solução numérica de problemas de autovalor e autovetor. Formas<br />

modais de sistemas. Modelagem de sistemas vibracionais a parâmetros<br />

distribuídos: vigas, eixos e membranas. Métodos de integração numérica em<br />

análise vibratória: métodos das diferenças finitas e elementos finitos. Vibrações<br />

aleatórias e identificação dinâmica de sistemas vibracionais. Análise modal de<br />

estruturas: instrumentação para testes de qualificação de componentes.<br />

Noções de vibrações não-lineares e controle ativo de vibrações. Bibliografia:<br />

MEIROVITCH, L., Elements of vibration analysis, McGraw-Hill, New York, 1986;<br />

EWINS, D.J., Model testing: theory and practice, John Wiley & Sons, New York,<br />

1984; RAO, S.S., Mechanical vibrations, Addison-Wesley, Reading, Ma., 1986;<br />

INMAN, D.J., Vibration with control, measurement and stability, Prentice-Hall,<br />

Englewoods Cliffs, 1989.<br />

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