Catálogo - Pós-Graduação - ITA
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frequência ideal. Transdutores e sistemas de condicionamento de sinais;<br />
amplificação, filtragem e ruído. Transdutores de força, pressão, aceleração,<br />
deslocamento, velocidade e fluxo. Transdutores de temperatura fundamentos<br />
de sensores e transdutores ópticos. Conversores A/D e D/A. Sistemas de<br />
aquisição de dados e transmissão de dados em instrumentação. Bibliografia:<br />
WEBSTER, J.G. (Editor), Measurement, Instrumentation and Sensors, Capman<br />
and Hall/CRC netBase, 1999; BENTLEY, J.P., Principles of Measurement<br />
Systems, 2. ed., John Wiley, New York, 1988; DOEBELIN, E.O., Measurement<br />
systems: application and design, 3. ed., McGraw-Hill, New York, 1983.<br />
MP-237/2007 – Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial<br />
Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />
3-0-5. Fundamentos em metrologia: definições gerais; unidades de medida e<br />
padrões internacionais; princípios básicos; erros de medição; sistemas de<br />
medição; calibração de sistemas de medição; resultados de medições diretas;<br />
resultados de medições indiretas; propagação de incertezas. Metrologia<br />
industrial: controle de qualidade; seleção de sistemas de medição;<br />
confiabilidade de processos na indústria. Instrumentos para medição:<br />
medidores de deslocamento, projetor de perfil, instrumentos auxiliares,<br />
medição de rugosidade, sistemas de medição por coordenadas, medição a<br />
laser. Tópicos de projeto: tolerâncias e ajustes; tolerância geométrica;<br />
acabamento superficial; GD & T (gerenciamento de tolerâncias e<br />
dimensionamento geométrico). Bibliografia: ALBERTAZZI, A., Fundamentos<br />
de metrologia científica e industrial. [S.l.]: Ed. Manole, 2005; DOEBLIN, E. O.<br />
Measurements Systems: Application and Design. New York: McGraw Hill, 2003;<br />
DRAKE, P. J. Dimensioning and tolerancing handbook. New York: McGraw Hill,<br />
1999.<br />
MP-242/2007 - Vibrações Mecânicas<br />
Requisito recomendado: MPD-171. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />
3-0-6. Vibrações livres e forçadas de sistemas a parâmetros concentrados.<br />
Modelagem dinâmica de sistemas vibracionais com múltiplos graus de<br />
liberdade. Solução numérica de problemas de autovalor e autovetor. Formas<br />
modais de sistemas. Modelagem de sistemas vibracionais a parâmetros<br />
distribuídos: vigas, eixos e membranas. Métodos de integração numérica em<br />
análise vibratória: métodos das diferenças finitas e elementos finitos. Vibrações<br />
aleatórias e identificação dinâmica de sistemas vibracionais. Análise modal de<br />
estruturas: instrumentação para testes de qualificação de componentes.<br />
Noções de vibrações não-lineares e controle ativo de vibrações. Bibliografia:<br />
MEIROVITCH, L., Elements of vibration analysis, McGraw-Hill, New York, 1986;<br />
EWINS, D.J., Model testing: theory and practice, John Wiley & Sons, New York,<br />
1984; RAO, S.S., Mechanical vibrations, Addison-Wesley, Reading, Ma., 1986;<br />
INMAN, D.J., Vibration with control, measurement and stability, Prentice-Hall,<br />
Englewoods Cliffs, 1989.<br />
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