4-2015
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
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Erkennung von Flussmitteln auf Solarzellen<br />
Qualitätssicherung<br />
Flussmittel- und Stauberkennung<br />
Zuverlässiges Auftragen von Verbindungsmedien,<br />
wie z.B. Flussmittel, Lötpaste und<br />
Leitkleber, sind das A und O der Solarzellenproduktion.<br />
Denn das Auftragen von<br />
Flussmittel auf die Busbars von Solarzellen<br />
ist bedeutend für die Unterstützung einer<br />
optimalen Kontaktierung und des Erscheinungsbildes<br />
der Verbindungsstelle.<br />
Durch einen begrenzten Auftrag können<br />
auch viele Folgefehler entstehen. Voraussetzung<br />
für eine fehlerfreie Lötverbindung ist<br />
schließlich ein Benetzen der zu lötenden<br />
Oberflächen mit Flussmittel. Daher hat<br />
EVT ein Programm entwickelt, welches<br />
den Auftrag von Flussmitteln überprüft.<br />
Dies ist erstens ein System zur Vorhandenseinskontrolle<br />
von Flussmitteln auf<br />
Leitungsbändern. Das heißt, während der<br />
Montage von Solarmodulen wird an den<br />
zu lötenden Kontaktmetallbändern kontrolliert,<br />
ob Flussmittel aufgetragen wurde.<br />
Andererseits wird auch die Zufuhr des Flussmittels<br />
unmittelbar vor dem Löten kontrolliert.<br />
Dies ist besonders wichtig bei mischbestückten<br />
Leiterplatten. Es werden daher<br />
mittels EyeVision Prüfprogrammen nur<br />
die Flächen mit Flussmittel benetzt, die<br />
im nächsten Arbeitsschritt gelötet werden.<br />
Die optische Kontrolle des Flussmittels ist<br />
eine Material und Zeit sparende Lösung, um<br />
zu erkennen, ob präzise aufgetragen wurde.<br />
Darüber hinaus dient das mit der Eye-<br />
Vision-Software entwickelte Inspektionssystem<br />
nicht nur der Optimierung der<br />
Kontaktierung der Solarzellen bzw. Herstellung<br />
von Strings, sondern ist auch ein<br />
Lösungsansatz für zukünftige applikationsspezifische<br />
Entwicklungen zur Qualitätsprüfung.<br />
Die EyeVision-Software hat<br />
zudem auch den Vorteil, dass sie einfach<br />
zu handhaben ist. Denn die Programmierung<br />
erfolgt über die Drag&-Drop-Funktion.<br />
Dies heißt auch, dass keine speziellen<br />
Programmierkenntnisse benötigt werden.<br />
Die Befehle sind bereits vorgegeben und<br />
müssen nur noch in der richtigen Reihenfolge<br />
mit der Maus in den Programmeditor<br />
gezogen werden.<br />
Sollte es dennoch Unklarheiten geben, so<br />
hilft ein ausführliches Handbuch sowie die<br />
Kontexthilfe im Programm.<br />
Particle Inspector<br />
Für den Erhalt einer sauberen und staubfreien<br />
Umgebung, wie z.B. in Reinräumen,<br />
hat EVT den Particle Inspector entwickelt.<br />
Anwendung findet dieser in Produktionsbereichen<br />
wie z.B. der Mikroelektronik und<br />
Feinwerktechnik wie für Biowissenschaften<br />
oder Gesundheitspflege. Der Particle Inspector<br />
ist nach ISO 14644 klassifiziert und<br />
nach VDI 2083 geprüft.<br />
Mit ihm kann der Grad an Staub, mikroskopischen<br />
Fasern, Kleinstlebewesen und<br />
anderen Kontaminationsstoffen erkannt<br />
werden. Daher eignet sich der Inspector um<br />
in produktionskritischen Positionen in der<br />
Arbeitsumgebung Messungen durchzuführen<br />
und Daten über Partikelverschmutzung<br />
zu sammeln. Der Verschmutzungsgrad und<br />
die Art der Verschmutzung ist essenziell für<br />
ein erfolgreiches Sauberkeitsmanagement.<br />
Der Particle Inspector verfügt über eine<br />
Auflösung von 8 micron pro Pixel und eine<br />
Reproduzierbarkeit von 95% für 20 Partikel.<br />
Der Messbereich erreicht bis zu 2.700 mm²<br />
je nach gereinigter Glasplatte (witness plate)<br />
bei einer Messgeschwindigkeit von bis zu<br />
60 Sekunden.<br />
Die Bilder werden hernach digitalisiert<br />
um diese auf einen PC oder Laptop zu übertragen.<br />
Anschließend wird zum Analysieren<br />
und Verarbeiten der Bilddaten die Eye-<br />
Vision Software verwendet. Erfasst wird per<br />
Partikel: die Länge und Breite, der Partikeltyp,<br />
die Position des Partikels auf der Glasplatte,<br />
usw. Zusätzlich fängt der Particel<br />
In spector auch Proben ein um diese zu analysieren<br />
und zu identifizieren. Messbereichsparameter<br />
sind außerdem P.A.C. (Percentage<br />
Area Covered) und P.D.C. (Percentage<br />
Deposition Class). Der Particle Inspector<br />
eignet sich für Reinräume und ist<br />
unabdingbar in der Halbleiterproduktion.<br />
EVT Eye Vision Technology GmbH<br />
www.evt-web.com<br />
68 4/<strong>2015</strong>