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4-2015

Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement

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Erkennung von Flussmitteln auf Solarzellen<br />

Qualitätssicherung<br />

Flussmittel- und Stauberkennung<br />

Zuverlässiges Auftragen von Verbindungsmedien,<br />

wie z.B. Flussmittel, Lötpaste und<br />

Leitkleber, sind das A und O der Solarzellenproduktion.<br />

Denn das Auftragen von<br />

Flussmittel auf die Busbars von Solarzellen<br />

ist bedeutend für die Unterstützung einer<br />

optimalen Kontaktierung und des Erscheinungsbildes<br />

der Verbindungsstelle.<br />

Durch einen begrenzten Auftrag können<br />

auch viele Folgefehler entstehen. Voraussetzung<br />

für eine fehlerfreie Lötverbindung ist<br />

schließlich ein Benetzen der zu lötenden<br />

Oberflächen mit Flussmittel. Daher hat<br />

EVT ein Programm entwickelt, welches<br />

den Auftrag von Flussmitteln überprüft.<br />

Dies ist erstens ein System zur Vorhandenseinskontrolle<br />

von Flussmitteln auf<br />

Leitungsbändern. Das heißt, während der<br />

Montage von Solarmodulen wird an den<br />

zu lötenden Kontaktmetallbändern kontrolliert,<br />

ob Flussmittel aufgetragen wurde.<br />

Andererseits wird auch die Zufuhr des Flussmittels<br />

unmittelbar vor dem Löten kontrolliert.<br />

Dies ist besonders wichtig bei mischbestückten<br />

Leiterplatten. Es werden daher<br />

mittels EyeVision Prüfprogrammen nur<br />

die Flächen mit Flussmittel benetzt, die<br />

im nächsten Arbeitsschritt gelötet werden.<br />

Die optische Kontrolle des Flussmittels ist<br />

eine Material und Zeit sparende Lösung, um<br />

zu erkennen, ob präzise aufgetragen wurde.<br />

Darüber hinaus dient das mit der Eye-<br />

Vision-Software entwickelte Inspektionssystem<br />

nicht nur der Optimierung der<br />

Kontaktierung der Solarzellen bzw. Herstellung<br />

von Strings, sondern ist auch ein<br />

Lösungsansatz für zukünftige applikationsspezifische<br />

Entwicklungen zur Qualitätsprüfung.<br />

Die EyeVision-Software hat<br />

zudem auch den Vorteil, dass sie einfach<br />

zu handhaben ist. Denn die Programmierung<br />

erfolgt über die Drag&-Drop-Funktion.<br />

Dies heißt auch, dass keine speziellen<br />

Programmierkenntnisse benötigt werden.<br />

Die Befehle sind bereits vorgegeben und<br />

müssen nur noch in der richtigen Reihenfolge<br />

mit der Maus in den Programmeditor<br />

gezogen werden.<br />

Sollte es dennoch Unklarheiten geben, so<br />

hilft ein ausführliches Handbuch sowie die<br />

Kontexthilfe im Programm.<br />

Particle Inspector<br />

Für den Erhalt einer sauberen und staubfreien<br />

Umgebung, wie z.B. in Reinräumen,<br />

hat EVT den Particle Inspector entwickelt.<br />

Anwendung findet dieser in Produktionsbereichen<br />

wie z.B. der Mikroelektronik und<br />

Feinwerktechnik wie für Biowissenschaften<br />

oder Gesundheitspflege. Der Particle Inspector<br />

ist nach ISO 14644 klassifiziert und<br />

nach VDI 2083 geprüft.<br />

Mit ihm kann der Grad an Staub, mikroskopischen<br />

Fasern, Kleinstlebewesen und<br />

anderen Kontaminationsstoffen erkannt<br />

werden. Daher eignet sich der Inspector um<br />

in produktionskritischen Positionen in der<br />

Arbeitsumgebung Messungen durchzuführen<br />

und Daten über Partikelverschmutzung<br />

zu sammeln. Der Verschmutzungsgrad und<br />

die Art der Verschmutzung ist essenziell für<br />

ein erfolgreiches Sauberkeitsmanagement.<br />

Der Particle Inspector verfügt über eine<br />

Auflösung von 8 micron pro Pixel und eine<br />

Reproduzierbarkeit von 95% für 20 Partikel.<br />

Der Messbereich erreicht bis zu 2.700 mm²<br />

je nach gereinigter Glasplatte (witness plate)<br />

bei einer Messgeschwindigkeit von bis zu<br />

60 Sekunden.<br />

Die Bilder werden hernach digitalisiert<br />

um diese auf einen PC oder Laptop zu übertragen.<br />

Anschließend wird zum Analysieren<br />

und Verarbeiten der Bilddaten die Eye-<br />

Vision Software verwendet. Erfasst wird per<br />

Partikel: die Länge und Breite, der Partikeltyp,<br />

die Position des Partikels auf der Glasplatte,<br />

usw. Zusätzlich fängt der Particel<br />

In spector auch Proben ein um diese zu analysieren<br />

und zu identifizieren. Messbereichsparameter<br />

sind außerdem P.A.C. (Percentage<br />

Area Covered) und P.D.C. (Percentage<br />

Deposition Class). Der Particle Inspector<br />

eignet sich für Reinräume und ist<br />

unabdingbar in der Halbleiterproduktion.<br />

EVT Eye Vision Technology GmbH<br />

www.evt-web.com<br />

68 4/<strong>2015</strong>

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