11.07.2015 Views

Overview in PDF format - Tallinna Tehnikaülikool

Overview in PDF format - Tallinna Tehnikaülikool

Overview in PDF format - Tallinna Tehnikaülikool

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

mass n<strong>in</strong>g süsteemi tulemusi saab kasutada haridusasutustes täiendusõppeuute kavade ja kursuste väljatöötamise n<strong>in</strong>g olemasolevate modifitseerimisealusena.3.4. Si<strong>in</strong>kirjeldatud lahendus on fokuseeritud metallitööstuse, mas<strong>in</strong>a- jaaparaadiehituse sektorile.Edasised uurimissuunad1. Uute tehnoloogiate kasutatavus sektori (makro)tasemel, selleksvajaliku tehnoloogilise arengu eelt<strong>in</strong>gimuste h<strong>in</strong>dam<strong>in</strong>e ja baasiloom<strong>in</strong>e.2. Tehnoloogiaseadmete monitoor<strong>in</strong>gumudelite realisatsioon portatiivsekih<strong>in</strong>a RFID tehnoloogia ja <strong>in</strong>tegreeritud arukate kübemete(„tark tolm”) kontseptsiooni abil teeb järgmise kümnendi lõpulreaalajaprotsesside monitoor<strong>in</strong>gu võimalikuks.3. R/OMS moodulite lisam<strong>in</strong>e CAE rakendustele vajab täiendavatuurimist. Formaalne verifitseerim<strong>in</strong>e tehnoloogiaseadmete mudelitekontrolliks on arvutiressurssi nõudev, mistõttu lahenduse kiireleidm<strong>in</strong>e on sageli probleemiks.4. Väljatöötatud andmebaasi lahendusi testiti sarnase kultuuritaustagapiiratud alal. Multikultuurse taseme erisuste arvestam<strong>in</strong>e eeldabontoloogiate edasiarendust andmekogude automaatseks koostamiseks,võimaldades eri keeltes koostatud teadmusbaasidestsaadavate andmevoogude vastastikku mõistetavaks tegemist.60

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!