materiales cerámicos. síntesis y procesado - Universidad ...
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VIII Congreso Nacional de<br />
Materiales - Valencia 2004<br />
009 Silicio híbrido dopado preparado por PECVD<br />
L. Urbina, J. Cárabe y JJ. Gandía<br />
Avda. Complutense nº 22, CIEMAT, 28040 MADRID<br />
El desarrollo de semiconductores en lámina delgada para aplicaciones fotovoltaicas es un campo de elevado interés por su potencial de<br />
reducción de costes. La enorme versatilidad de la tecnología de silicio en lámina delgada permite controlar las propiedades del material<br />
para obtener tanto absorbentes como emisores de células solares. La línea de investigación del CIEMAT en dispositivos de silicio<br />
aborda, entre otros, el desarrollo de una forma de silicio depositado llamada silicio híbrido y su aplicación tanto a células de heterounión<br />
como a células p-i-n de silicio en lámina delgada. La combinación de una baja energía de activación de la conductividad en estados<br />
extendidos (por debajo de 0.1 eV) y de un gap elevado (del orden de 2 eV o más), hacen del silicio híbrido un material ideal como<br />
emisor n o p de cualquiera de estos dos tipos de dispositivos fotovoltaicos. El propósito del presente trabajo es clarificar cuáles son los<br />
parámetros clave en el depósito de láminas de h-Si:H por medio de PECVD convencional, de modo que sea fácil reproducir en un<br />
reactor un silicio híbrido desarrollado en otra máquina.<br />
072 Preparación de láminas ultrafinas por métodos químicos de depósito de disoluciones con composiciones<br />
basadas en el titanato de plomo<br />
J. Ricote, M.L. Calzada<br />
Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid. CSIC. 28049 Madrid.<br />
Uno de los principales retos que presenta la adaptación a la escala nanométrica de los dispositivos electromecánicos es la elección de<br />
un elemento transductor adecuado. En estas escalas de tamaño tanto la transducción electrostática como por métodos ópticos<br />
presentan graves dificultades, mientras que la transducción piezoeléctrica escala bien en las dimensiones nanométricas y es<br />
potencialmente utilizable en los nuevos sistemas nanoelectromecánicos (NEMS, del inglés Nanoelectromechanical Systems). Para ello<br />
se necesitan optimizar los métodos de preparación de láminas piezoeléctricas ultrafinas (espesores inferiores a 100 nm) que se puedan<br />
integrar en dichos dispositivos.<br />
Los métodos químicos de depósito de disoluciones (CSD, del inglés Chemical Solution Deposition) presentan claras ventajas en la<br />
preparación de láminas delgadas, tales como el control estequiométrico y microestructural, siendo posible la preparación de láminas<br />
extensas de calidad con espesores de hasta 13 nm [1]. Sin embargo, la formación de "islas" tras la cristalización de la lámina observada<br />
en estos sistemas [2] limita la continuidad del recubrimiento. En este trabajo abordamos la tarea de preparar láminas ultrafinas de<br />
titanatos de plomo con diferentes espesores por medio del control de las propiedades reológicas de las disoluciones precursoras, con el<br />
fin de determinar las condiciones óptimas para producir láminas continuas de los menores espesores posibles. El control del espesor se<br />
hace por medio de reflectividad de rayos X y las propiedades piezoeléctricas de las láminas se determinan con un microscopio de<br />
fuerzas usando el denominado modo de piezorespuesta [3].<br />
211 Caracterización óptica de películas de silicio de espesor controlado e índice refracción contrastado<br />
J.Pérez Sellés, V. Cabrera, P. Velásquez b , C.R. Mateo a y R. Mallavia a<br />
a) Instituto de Biología Molecular y Celular, <strong>Universidad</strong> Miguel Hernández, 03202Elche, Spain<br />
b) Departamento de Materiales, <strong>Universidad</strong> Miguel Hernández, 03202 Elche, Spain<br />
Se ha caracterizado dos tipos de <strong>materiales</strong> obtenidos a partir de la hidrólisis de ortosilicato de tetraetilo (TEOS) y se ha obtenido<br />
películas delgadas de espesor controlado. Para ello, se ha construido y puesto a punto un multidepositador por inmersión. Se ha<br />
encontrado que el grosor de la película depende de la velocidad de retirada y de la viscosidad del material como predice la teoría de<br />
Landau. Además, es posible obtener películas de índice de refracción contrastado modificando las condiciones experimentales<br />
basificando antes de la deposición.<br />
219 Fabricación de grandes áreas de membranas de óxido anódico de aluminio con porosidad ordenada para<br />
implementación en VOI<br />
Emilio Rayón, Ester Pastor, Carlos Ferrer, Vitali Parkhutik<br />
Departamento de Ingeniería Mecánica y Materiales, <strong>Universidad</strong> Politecnica de Valencia, Cami de Vera, s/n 46022 Valencia<br />
Desde que Masuda propusiera el método de fabricación de membranas de óxido anódico de aluminio con porosidad ordenada,<br />
mediante la anodización de aluminio puro bajo condiciones especiales, existe un interés creciente sobre este material y sus<br />
aplicaciones, como en cristales fotónicos, biofiltros, nanotubos, almacenamiento magnético, células solares, filtros, etc. En este trabajo,<br />
nuestro grupo ha fabricado membranas de 7cm 2 de óxido anódico, que posteriormente se implementarán en dispositivos de ventanas<br />
ópticas inteligentes como nueva aplicación de este material.