Chap 1,2 et 3 (P. Mendels)
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2.4 Le microscope à eff<strong>et</strong> tunnel (S.T.M.) : principe 25<br />
Deux conséquences :<br />
C el = ∂E tot<br />
∂T<br />
= π2<br />
2 Nk B<br />
– T T F<br />
≪ 1 donc C el ≪ 3 2 Nk B, capacité calorifique du GP, voir l’approche qualitative<br />
– La capacité calorifique d’origine électronique a une variation linéaire en T ; au dessous de<br />
∼ 10 K, elle domine sur la capacité calorifique due aux phonons (vibrations de réseau) qui<br />
varie en T 3 alors que c’est le contraire dans l’autre limite.<br />
En règle générale, la capacité calorifique d’origine électronique perm<strong>et</strong> de remonter<br />
à la densité d’états au niveau de Fermi qui est moins triviale dans le cas d’approches<br />
moins simplifiées sur les métaux. D’où l’intérêt des mesures basses températures pour la<br />
m<strong>et</strong>tre en évidence.<br />
T<br />
T F<br />
Figure 2.4 – C el /T en fonction de T 2 pour le cuivre ; la partie linéaire représente la contribution<br />
des phonons (vibrations de réseau) <strong>et</strong> l’ordonnée à l’origine est associée au terme électronique<br />
2.4 Le microscope à eff<strong>et</strong> tunnel (S.T.M.) : principe<br />
S.T.M. pour Scanning Tunneling Microscope<br />
2.4.1 Généralités<br />
Les microscopes à eff<strong>et</strong> tunnel sont devenus très populaires dans le monde de la recherche à<br />
la fin des années 80. Ils perm<strong>et</strong>tent de sonder la densité d’états d’un métal, par eff<strong>et</strong> tunnel<br />
électronique. C’est surtout dans les matériaux supraconducteurs que c<strong>et</strong>te technique a été<br />
initialement utilisée.<br />
D’un point de vue technologique, c’est le développement de cristaux piézoélectriques qui a<br />
permis de contrôler à la fraction d’Åprès le positionnement d’une fine pointe métallique de<br />
dimension nanométrique au dessus d’un métal, perm<strong>et</strong>tant ainsi un eff<strong>et</strong> tunnel résolu dans<br />
M1PF-MAG2 2012-2013, Matière condensée (I)