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PDF-Datei zum Ausdrucken - Paton - TU Ilmenau

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45.13.3 Erstellung von Rechercheberichten<br />

340<br />

Leitfaden zu STN-Patentdatenbanken<br />

45.13.3.1 Abspeichern der Ergebnisse und Erzeugen von Reports<br />

Die einzelnen Analysen können in verschiedenen Formaten für eine Weiterverarbeitung abgespeichert werden, um<br />

so in einen gedruckten oder elektronischen Recherchebericht aufgenommen zu werden. Es kann auch ein<br />

Kurzreport (1 Seite) oder ein detaillierter Report (8 bis 9 Seiten) automatisch erzeugt werden.<br />

45.13.3.2 Übergabe der Visualisierungsergebnisse an Endnutzer/Auftraggeber<br />

Die Ergebnisse können auch über Shared Project Login IDs an Endnutzer innerhalb des Unternehmens übergeben<br />

werden. Damit können diese alleine oder gemeinsam mit dem Rechercheur die Ergebnisse interaktiv betrachten<br />

und / oder weiterbearbeiten. Für die Anzeige von Dokumenten können zusätzlich Kosten anfallen.<br />

45.13.4 Zusammenfassung<br />

Folgende Möglichkeiten bietet STN ® AnaVist TM :<br />

Verwendung: Menügeführte Erstellung von statistischen Tabellen inklusive<br />

Visualisierung; Bereitstellung der Ergebnisse als interaktives Tool für<br />

den Rechercheur und den Endnutzer / Auftraggeber.<br />

Optionen: Automatische Bereitstellung einer Reihe von aussagekräftigen<br />

Tabellen und Graphiken, die erfahrungsgemäß für eine<br />

Patentstatistik wichtig sind. Sehr viele Möglichkeiten für Anzeige /<br />

Kennzeichnung von Zusammenhängen zwischen den einzelnen<br />

Statistikergebnissen<br />

Maximale Anzahl von Dokumenten: 20 000 Dokumente<br />

Bearbeitung der Tabellen: Eine Bearbeitung der Rangreihen, z. B. von Patentanmeldernamen,<br />

ist effektiv durchführbar. Durch die aufbereiteten Datenbanken wird<br />

der Aufwand von vornherein gesenkt.<br />

Bearbeitung von zwei oder mehreren Kriterien: Ein oder zwei Kriterien können bearbeitet und in einer Tabelle oder<br />

als Graphik dargestellt werden. Die Darstellung von zwei Kriterien<br />

erfolgt immer in Tabellen.<br />

Visualisierung der Ergebnisse: Visualisierungen sind schnell und einfach zu erstellen. Zusätzliche<br />

Visualisierungen von Teilanalysen sind ebenfalls möglich. Es gibt<br />

umfangreiche Möglichkeiten zur Anzeige der Kopplung zwischen<br />

den Analysen und damit zur Kennzeichnung von Zusammenhängen.<br />

Funktionalitäten zur Verbesserung der Relevanz des<br />

Rechercheergebnisses/der Stichprobe:<br />

Es gibt diverse Möglichkeiten, um Teilmengen, d. h. eingegrenzte<br />

Stichproben, zu erzeugen (Auswahl aus der Landscape oder den<br />

Diagrammen, markierte Dokumente) und eine Analyse mit<br />

Visualisierung zu starten.<br />

Fazit: STN AnaVist stellt nicht nur ein Werkzeug dar, mit dem effektiv einzelne statistische Tabellen und Graphiken<br />

in hoher Qualität erzeugt werden können, sondern durch die Interaktivität und die Möglichkeit, Teilmengen zu<br />

visualisieren, hat der Rechercheur ein komfortables Mittel für die Erstellung von aussagekräftigen<br />

Rechercheberichten (gedruckt oder elektronisch mit Screenshots). Außerdem können die Ergebnisse auch über sog.<br />

Shared Project Login IDs an die Endnutzer / Auftraggeber übergeben werden.<br />

45.13.5 Weitere Publikationen<br />

[1] Claus-Dieter Siems, Elke Thomä: Das interaktive Analyse- und Visualisierungstool STN ® AnaVist TM , S. 255<br />

268 in PATINFO 2006. Patente, Marken und Geschmacksmuster Rechtspraxis, Recherche, Analyse und<br />

Verwertung. <strong>Ilmenau</strong>, 18. und 19. Mai 2006<br />

[2] Robert Austin: Exploring Derwent World Patents Index ® in STN ® AnaVist TM , Version 2.0<br />

http://www.stn-international.com/fileadmin/be_user/STN/pdf/presentations/STNAnaVistR2.pdf<br />

[3] STN ® AnaVist TM , Version 2008 Quick Start Guide. http://www.cas.org/ASSETS/<br />

C8DC4981A5334D578372652D88ACC73E/STN AnaVist Quick Start Guide 2.0.pdf<br />

[4] Elke Thomä: SELECT bis ANAVIST STN Tools für Patentstatistik,<br />

S. 53 66 in Proceedings, Hrgb. Marlies Ockenfeld, 29. Online-Tagung der DGI, Information in Wissenschaft,<br />

Bildung und Wirtschaft. Frankfurt am Main, 10. 12. Oktober 2007

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