Jahresbericht 2008 - Fakultät für Elektrotechnik, Informatik und ...

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Prof. Dr. rer. nat.
Sybille Hellebrand
Personal
Sekretariat
Ursula Stiebritz
Wissenschaftliche Mitarbeiter
Dipl.-Inform. Uranmandakh Amgalan
Dipl.-Inform. Marc Hunger
Mag. Philipp Öhler
Dipl.-Inform. Michael Schnittger
Dipl.-Ing. Rüdiger Ibers
Technischer Mitarbeiter
Dipl.-Inform. Marcus Grieger
Publikationen
Hunger, M.; Marienfeld, D.: New Self-Checking
Booth Multipliers; International Journal of
Applied Mathematics and Computer Science
Vol. 18, No. 3, 2008
Hunger, M.; Hellebrand, S.: Analyse selbstprüfender
Schaltungen – Nachweis von Fehler -
sicherheit und Selbsttestbarkeit mit ATPG;
Proceedings 2. GMM/GI/ITG-Fachtagung
„Zu ver lässigkeit und Entwurf“, Ingolstadt,
September 2008, S. 67–74
Öhler, P.; Bosio, A.; Di Natale, G.; Hellebrand,
S.: Modularer Selbsttest und optimierte
Reparaturanalyse; Proceedings 2. GMM/GI/
ITG-Fachtagung „Zuverlässigkeit und Entwurf“,
Ingolstadt, September 2008, S. 49–55
Hunger, M.; Hellebrand, S.: Verification and
Analysis of Self-Checking Properties through
ATPG; Proceedings IEEE International On-Line
Testing Symposium 2008 (IOLTS’2008), Rhodes,
Greece, July, 2008, pp. 25–30
Öhler, P.; Bosio, A.; Di Natale, G.; Hellebrand,
S.: A Modular Memory BIST for Optimized
Memory Repair; Proceedings IEEE International
On-Line Testing Symposium 2008 (IOLTS’2008),
Rhodes, Greece, July, 2008, pp. 171–172 (Poster)
Amgalan, U.; Hachmann, C.; Hellebrand, S.;
Wunderlich, H.-J.: Signature Rollback – A Tech -
nique for Testing Robust Circuits; Proceedings
IEEE VLSI Test Symposium (VTS’08), San Diego,
CA, USA, May, 2008, pp. 125–130
Coym, T.; Hellebrand, S.; Ludwig, S.; Straube,
B.; Wunderlich, H.-J.; Zoellin, C. G.: Ein verfeinertes
elektrisches Modell für Teilchentreffer
und dessen Auswirkung auf die Bewertung der
Schaltungsempfindlichkeit; 20. ITG/GI/GMM
Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit
von Schaltungen und Systemen“, Wien, Österreich,
März 2008 (Poster)
Amgalan, U.; Hachmann, C.; Hellebrand, S.;
Wunderlich, H.-J.: Testen mit Rücksetzpunkten
– ein Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute
bei robusten Schaltungen 20. ITG/GI/GMM
Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit
von Schaltungen und Systemen“, Wien, Österreich,
März 2008
Tagungen, Seminare, Messen
Topic Chair for BIST and DFT:
13th IEEE European Test Symposium, Verbania,
Italy, May 25–29, 2008
Mitglied des Organisationskomitees:
· IEEE VLSI Test Symposium, San Diego, CA,
USA, May 4–8, 2008
· 2. GMM/GI/ITG Fachtagung Zuverlässigkeit
und Entwurf (ZuE’08), Ingolstadt, 29. Sep tem -
ber–1. Oktober 2008
Mitglied des Programmkomitees:
· Design Automation and Test in Europe (DATE
’08), Munich, Germany, March 10–14, 2008
· IEEE Workshop on Design and Diagnostics
of Electronic Circuits and Systems (DDECS’08),
Bratislava, Slovakia, April 16–18, 2008
· ACM/IEEE Design Automation Conference,
Anaheim, CA, June 9–13, 2008
· 14th IEEE International On-Line Test Sympo -
sium, Rhodes, Greece, July 6–9, 2008
Weitere Funktionen
Mitherausgeberin von:
· JETTA (Journal of Electronic Testing – Theory
and Applications), Springer-Verlag
· IEEE Transactions of Computer-Aided Design
of Circuits and Systems
Stellvertretende Sprecherin der Fachgruppe
„Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schal -
tungen und Systemen“ in der GI/ITG/GMM
Kooperationsgemeinschaft „Rechnergestützter
Schaltungs- und Systementwurf (RSS)“
Aktuelle Forschungsprojekte
DFG-Projekt „Test fehlertoleranter nanoelektronischer
Systeme“ in Kooperation mit den Univ
ersitäten Freiburg und Stuttgart sowie dem
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen,
Außenstelle Entwurfsautomatisierung EAS
Dresden im Rahmen des Projekts RealTest (Test
and Reliability of Nano-Electronic Systems).
Kurzbeschreibung: Nanoelektronische Struk -
turen zeichnen sich durch extreme Parameter -
schwankungen und eine erhöhte Störan fällig -
keit gegenüber äußeren Störeinflüssen aus.
Wirt schaftliche Ausbeuten lassen sich nur
durch einen robusten Entwurf erzielen, der
Fehler in gewissem Umfang tolerieren kann.
Der Test solcher fehlertoleranter Systeme ist
problematisch, da wegen der eingebauten Feh -
ler toleranz interne Fehler nur schwer oder gar
nicht beobachtbar sind. Für den Nachweis der
geforderten Zuverlässigkeitseigenschaften
muss außerdem bestimmt werden, in welchem
Um fang beim Test bereits Fehlertoleranzmecha -
nis men ausgenutzt wurden und wie hoch der
verbleibende Grad an Robustheit ist, um z.B.
Stö rungen während des Betriebs abfangen zu
können.
Ziel des Forschungsvorhabens ist es, geeignete
Teststrategien zu entwickeln und durch speziell
abgestimmte Maßnahmen für den testfreundlichen
Entwurf zu unterstützen. Darüber hinaus
sollen Selbsttestverfahren entwickelt werden,
die zusätzlich zur Erzeugung von Teststimuli
und zur Kompaktierung der Testantworten auch
in der Lage sind, die verbleibende Robustheit
des Systems auf dem Chip auszuwerten und
zu charakterisieren. Aufgrund der gewonnenen
Erfahrungen sollen neue, leicht testbare fehlertolerante
Strukturen für nanoelektronische
Systeme konzipiert werden.
DFG-Projekt „Eingebettete Diagnose- und De bug -
methoden für VLSI-Systeme in Nano meter-Tech -
nologie (DIADEM)“ in Kooperation mit der Uni -
versität Stuttgart.
Kurzbeschreibung: Ziel des Projekts ist die
Entwicklung und Untersuchung innovativer eingebetteter
Diagnoseverfahren für integrierte
nanoelektronische Systeme. Da hier mit sehr
großen Prozessschwankungen, anfänglich sehr
geringen Ausbeuten und einer erhöhten Stör -
anfälligkeit im Betrieb zu rechnen ist, sind effiziente
Diagnoseverfahren unabdingbar, um
integrierte Systeme mit vertretbaren Kosten
schnell zur Marktreife zu bringen und einen
stabilen, zuverlässigen Einsatz zu gewährleisten.
Dazu müssen mehr als bisher Diagnose -
ein rich tungen mit in das System integriert werden
(„Built-in Diagnosis“) und gegebenenfalls
auch Reparaturmöglichkeiten vorgesehen werden
(„Built-in Repair“). Im Rahmen des Projekts
werden dazu für digitale Systemkomponenten
die Grundlagen geschaffen. Auf Software Seite
werden Algorithmen zur Bestimmung diagnostischer
Tests entworfen. Auf Hardware Seite
werden die Bausteine für die Diagnoseinfra -
struktur auf dem Chip („Infrastructure IP“)
entworfen und Module zur Erzeugung der
Diagnose stimuli, zur Auswertung der Antworten
und zur Analyse von Reparaturmöglichkeiten
entwickelt.
Prof. Dr.-Ing. Bernd Henning
Personal
Sekretariat
Inge Meschede
Wissenschaftliche Mitarbeiter
Dipl.-Ing. Hardy Nickell
Dipl.-Ing. Sergei Olfert
Dipl.-Ing. Jens Rautenberg
Dipl.-Ing. Andreas Schröder
Dipl.-Ing. Carsten Unverzagt
Dipl.-Ing. Torsten Vössing
Dr.-Ing. Dietmar Wetzlar
Technische Mitarbeiter/innen
Theodor Göke
Dipl.-Ing. Matthias Krumme
Friedhelm Rump
Dipl.-Ing. Ralf Schalk
Sabine Schleghuber
Dipl.-Ing. Gerd Walter
Publikationen
XXI. Messtechnisches Symposium des Arbeits -
kreises der Hochschullehrer für Messtechnik.
20.–22. September 2007, Paderborn, Editorial:
B. Henning, Technisches Messen, Heft 4/2008,
Oldenbourg Verlag, S. 217–220
Rautenberg, J.; Henning, B.: Separation und
Bewertung verschiedener Moden der Schallaus -
breitung im akustischen Wellenleiter. Sensorenund
Messsysteme ’08, Ludwigsburg, 11.–12.
März 2008, Tagungsband
Rautenberg, J.; Henning, B.: Simultaneous
direct and indirect measurement of sound
velocities. Eurosensors XXII, Dresden,
September 07–10 2008, Proceedings
Promotionen
Dr.-Ing. Dirk Olszewski
Stark gerichtete Audio-Beschallung mit
parametrischem Ultraschall-Lautsprecher,
14. Februar 2008