2-2022
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
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Halbleiterfertigung<br />
Aufbau neuer Halbleiterfabriken<br />
Hilscher Gesellschaft für<br />
Systemautomation mbH<br />
info@hilscher.com<br />
www.hilscher.com<br />
Die Zukunftsaussichten für die Halbleiterindustrie<br />
sind mit einem prognostizierten Wachstum von ca. 9%<br />
für das Jahr <strong>2022</strong> durchaus positiv. Jedoch kommt es<br />
u.a. durch die Auswirkungen der anhaltenden Corona-<br />
Pandemie in der Branche immer wieder zu Lieferengpässen.<br />
Durch die Entwicklung des neuartigen comX<br />
Kommunikationsmoduls speziell für die Halbleiterindustrie,<br />
unterstützt Hilscher diese nun bei der Bewältigung<br />
der aktuellen Situation.<br />
Kommunikationsmodule von Hilscher werden seit<br />
über 25 Jahren in der industriellen Automation von<br />
einer Vielzahl erfolgreicher Unternehmen eingesetzt.<br />
Ihre Fähigkeit, alle führenden Realtime-Ethernet-Protokolle<br />
als Master oder Slave in exakt einem Design zu<br />
unterstützen, findet bei Herstellern von Automatisierungsgeräten,<br />
wie z.B. Robotersteuerungen, SPSen<br />
oder Antrieben viel Anklang.<br />
In der Halbleiterfertigung hat sich EtherCAT als<br />
Kommunikationsprotokoll durchgesetzt. Gerätehersteller,<br />
die ihre Produkte im Halbleitermarkt verkaufen<br />
möchten, kommen somit auch an dem EtherCAT<br />
Standard ETG.5003 Semiconductor Device Profile<br />
nicht mehr vorbei.<br />
Das comX 51CA-RE\R basiert auf dem klassischen<br />
und im Markt etablierten comX 51 Design. Mit dem<br />
Zusatz von physischen Adress-Drehcodierschaltern<br />
kann die Explicite Device ID gemäß Common Device<br />
Profil (CDP, ETG.5003-1) eingestellt werden. Das<br />
Zusammenspiel von selbstentwickelter Hard- und<br />
Software von Hilscher ermöglicht es den Anwendern,<br />
ein Gerät nach dem CDP zu entwickeln, welches die<br />
Basis für die Geräteentwicklung gemäß SDP (Specific<br />
Device Profile, ETG.5003-2xxx) darstellt.<br />
Schnell reagieren ist in Zeiten der Krise essenziell.<br />
Hilscher reagiert mit dem COMX 51CA-<br />
RE\R auf den Bedarf, bereits vorhandene Produktionsstätten<br />
auszubauen sowie neue Kapazitäten<br />
in der Halbleiterfertigung zu schaffen. Hersteller<br />
von Fertigungsmaschinen können bei Hilscher<br />
auf die langjährige Erfahrungen mit Ether-<br />
CAT, aber auch auf die Zuverlässigkeit des comX<br />
Moduls vertrauen. ◄<br />
Analyse von Spurenverunreinigungen<br />
Der kompakte Gas-Chromatograph MultiDetek3<br />
von Process Sensing Technologies<br />
(PST) kombiniert die Funktionalität<br />
von zwei Geräten in einem – das ermöglicht<br />
eine enorme Kosteneinsparung. Die<br />
modulare Lösung zur vollständigen Analyse<br />
von Spurenverunreinigungen in Prozessen<br />
bietet dem Anwender sowohl die<br />
gleichzeitige Überwachung unterschiedlicher<br />
Spurengase als auch die Bestimmung<br />
von Feuchtigkeit und Sauerstoff.<br />
Die neue Entwicklung mit robustem<br />
6U-Rackmount-Gehäuse ist für das Labor<br />
und die industrielle Installation ausgelegt.<br />
Typische Anwendungen sind die Überprüfung<br />
der Qualität von UHP- und Spezialgasen in<br />
der Halbleiter- und Elektronikfertigung sowie<br />
in ASU-Produktionsanlagen.<br />
Im Energiesektor eignet sich die neue Entwicklung<br />
für die Überwachung der Reinheit von<br />
Wasserstoff und Schwefelhexafluorid (SF6).<br />
Weitere Anwendungen sind die UHP-CO 2 -<br />
Analyse in der Lebensmittelproduktion und<br />
die Gasanalyse in Weinkellereien.<br />
Der Gas-Chromatograph MultiDetek3 kann<br />
mit FID/PED- oder TCD-Detektoren für Online-<br />
Spurenverunreinigungsmessungen konfiguriert<br />
werden und ist temperaturgesteuert, um<br />
zusätzliche Stabilität zu gewährleisten. Dank<br />
der beiden Probeneinlässe lassen sich zwei<br />
Gasströme parallel analysieren – er bietet<br />
also die gleiche Funktionalität wie zwei separate<br />
Geräte.<br />
Der PED-Sensor detektiert u.a. Permanentund<br />
Edelgase, Schwefel, Ammoniak, Kohlenwasserstoffe,<br />
Aldehyde, BTEX-Verbindungen<br />
und Alkohole bis hin zu 100 ppt. Der Flammenionisations-Detektor<br />
(FID) dient zum<br />
Nachweis von Kohlenwasserstoffspuren<br />
mit einer Nachweisgrenze (LDL) von 1 ppb,<br />
während der Wärmeleitfähigkeits-Detektor<br />
(TCD) für die Analyse von binären Gaskombinationen<br />
bis hin zu 1 ppm für das Zielgas<br />
ausgelegt ist.<br />
Darüber hinaus hat der Nutzer die Möglichkeit,<br />
spezielle Sensoren für Sauerstoffund<br />
Feuchtigkeitsspuren einzubauen. Für<br />
Sauerstoff sind dies elektrochemische oder<br />
Zirkoniumdioxid-Sensoren, für die Messungen<br />
der Feuchtigkeit stehen Quarzkristall-Mikrowaagen<br />
oder keramische Metalloxid-Feuchtesensoren<br />
zur Verfügung.<br />
Das MultiDetek3 verfügt über eine große, farbige<br />
Touchscreen-Oberfläche für eine einfache<br />
Bedienung und ermöglicht dank der LDChroma+<br />
Software eine umfassende Berichterstattung.<br />
Michell Instruments GmbH<br />
www.michell.de<br />
140 2/<strong>2022</strong>