2-2022

Qualitätssicherung
tronik-Inspektion geeignet. Es vereint
hochauflösende 2D-Röntgentechnik,
PlanarCT und 3D-CT in
einem System und ist speziell für
die Inspektion von elektronischen
Bauteilen wie Halbleitern, Leiterplatten
und Lithium-Ionen-Batterien konzipiert.
Es erzielt eine Detailerkennbarkeit
von bis zu 200 nm für brillante
Analysergebnisse und erlaubt
die Prüfung selbst stark absorbierender
Objekte.
Phoenix Speed|scan HD – Inline
geht es um Geschwindkeit
Das neueste Mitglied der CT-
System Produktreihe von Waygate
Technologies, Phoenix Speed|scan
HD, ist ein Hochgeschwindigkeits-
Mikro-CT-System, das für die vollautomatische
Prüfung von z. B. Elektronikteilen
und Batterien entwickelt
wurde. Speed|scan HD verfügt über
einen zweiarmigen Manipulator für
eine vollautomatische Roboterbeladung
sowie eine Doppelschleuse
und ermöglicht damit den Dauertbetrieb
24/7. Hersteller können
damit „rund um die Uhr“ scannen
und so mit den Produktionsschichten
Schritt halten und ihr Null-Fehler-Ziel
erreichen, indem sie bis zu
100 % des Produktionsvolumens
prüfen. Erstmals können Besucher
der Control am Stand von Waygate
Technologies dieses Mikro-CT- System
durch modernste AR/MR-Brillen
erkunden. ◄
Phoenix Nanonme|x Neo
1-Slot-PXI- und PXIe-1000Base-T1-Fehlersimulationsmodule
Pickering Interfaces erweiterte
sein Angebot an PXI- und PXIe-
Fehlersimulationsmodulen um
das 1000Base-T1-Protokoll. Die
kompakten 1-Slot-Module 40/42-
203 und 40/42-204 schalten bis zu
200 V/0,8 A mit typisch differentiellen
Bandbreiten von 1,6 GHz bzw.
700 MHz. Beide Karten verfügen
über einen geeigneten Sicherheitszuschlag
bezüglich der 1000Base-
T1-Spezifikation. Die Module besitzen
eine PXI- oder PXIe-Schnittstelle,
die Flexibilität bei der Chassisauswahl
ermöglicht.
Die neuen 1000Base-T1-Fehlersimulationsmodule
sind in unterschiedlicher
Kanalzahl und mit
zwei Fehlerbussen erhältlich. Die
Module 40-203 (PXI) und 42-203
(PXIe) ermöglichen das Nachbilden
von Fehlerzuständen auf bis
zu sechs 2-Draht-Kanälen, während
die Dual-Multiplexer-Karten
40-204 (PXI) und 42-204 (PXIe)
über zwei Fehlerbusse das Simulieren
von Fehlern auf einer oder beiden
Leitungen der 2-Draht-Verbindung
erlauben. Beide Karten bieten
Signalpfade mit 100 Ohm Impedanz.
Für Flexibilität bei kleineren Testanwendungen
sind sie als teilbestückte
Versionen verfügbar, wobei
das Modul 40/42-203 mit drei Kanälen
und das Modul 40/42-204 als
ein Einkanalausführung erhältlich
ist. Vollständig bestückte Module,
die die Anzahl auf sechs bzw. zwei
Kanäle auf derselben Grundfläche
eines einzelnen Gehäusesteckplatzes
verdoppeln, kommen für
gestiegene Testanforderungen in
Betracht.
Beide Baureihen nutzen die
MMCX-Steckerschnittstelle, mit
der eine hohe Kanalzahl auf kleiner
Frontplattenfläche möglich ist,
wenn auch nicht in differentieller
Ausführung.
Es gibt mehrere Anbieter von Steckersystemen,
die für 1000Base-
T1-Anwendungen entwickelt wurden,
doch die Industrie hat sich nicht auf
einen bestimmten Serienstandard
festgelegt. Aus diesem Grund können
Kunden ihr bevorzugtes Steckerformat
selbst festlegen.
Pickering Interfaces
www.pickeringtest.com
Oberflächenmetrologie
für die Halbleiterindustrie
Wir bieten Ihnen zuverlässige
optische Wafer-Messgeräte:
vollautomatisch und flexibel.
FormFactor FRT Metrology
FRT GmbH
Friedrich-Ebert-Straße 75
51429 Bergisch Gladbach
www.formfactor.com/products/metrology/
2/2022
107