PCT/2001/21 : PCT Gazette, Weekly Issue No. 21, 2001 - WIPO

21/2001
25 May/mai 2001 PCT Gazette - Section I - Gazette du PCT 8831
(72) ELABD, Hammam; 587 Middlebury Drive,
Sunnyvale, CA 94087 (US).
(74) JAKOPIN, David, A. et al. / etc.; Pillsbury
Madison & Sutro LLP, 1100 New York Avenue,
N.W., Washington, DC 20005 (US).
(81) AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR
BY BZ CA CH CN CR CU CZ DE DK DM
DZ EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU
ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK
LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW
MX MZ NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI
SK SL TJ TM TR TT UA UG UZ VN YU ZA
ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ
UG ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU
TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI
FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR); OA
(BF BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR
NE SN TD TG).
(51) 7 G06F 11/00
(11) WO 01/37089 (13) A2
(21) PCT/DE00/04050
(22) 17 Nov/nov 2000 (17.11.2000)
(25) de (26) de
(30) 199 55 595.8 18 Nov/nov 1999 DE
(18.11.1999)
(43) 25 May/mai 2001 (25.05.2001)
(54) TEST ENVIRONMENT FOR TEST-
ING ELECTRONIC SYSTEMS AND
METHOD FOR TESTING SYSTEMS
BY MEANS OF A TEST ENVIRON-
MENT
ENVIRONNEMENT DE TEST DES-
TINE A L’ANALYSE DE SYSTEMES
ELECTRONIQUES ET PROCEDE DE
TEST DE SYSTEMES AU MOYEN
D’UN ENVIRONNEMENT DE TEST
(71) INFINEON TECHNOLOGIES AG
[DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53, 81669
München (DE).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) BAUER, Matthias [DE/DE]; Arnimstrasse
5, 81369 München (DE). HEN-
FTLING, Renate [DE/DE]; Fliederstrasse
13, 82256 Fürstenfeldbruck (DE). ECKER,
Wolfgang [DE/DE]; Mäuselweg 20, 81375
München (DE).
(74) VIERING, JENTSCHURA & PARTNER;
Postfach 22 14 43, 80504 München (DE).
(81) JP KR US.
(84) EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR
IE IT LU MC NL PT SE TR).
(51) 7 G06F 11/00, 11/10, G11C 5/00
(11) WO 01/37090
(21) PCT/US00/31439
(13) A1
(22) 15 Nov/nov 2000 (15.11.2000)
(25) en (26) en
(30) 09/442,850 18 Nov/nov 1999
(18.11.1999)
US
(43) 25 May/mai 2001 (25.05.2001)
(54) A MEMORY EXPANSION MODULE
WITH
AGES
STACKED MEMORY PACK-
MODULE D’EXPANSION MEMOIRE A
BLOCS MEMOIRE EMPILES
(71) SUN MICROSYSTEMS, INC. [US/US];
901 San Antonio Road, Palo Alto, CA 94303
(US).
(72) WONG, Tayung; 2888 Alice Court, Fremont,
CA 94539 (US). CARRILLO, John;
5697 Tubac Lane, San Jose, CA 95118 (US).
ROBINSON, Jay; 890 Poppy Court, Sunnyvale,
CA 94086 (US). FANG, Clement;
7611 Elderwood Court, Cupertino, CA 95014
(US). JEFFREY, David; 326 Alamo Avenue,
Santa Cruz, CA 95060 (US). VAIDYA,
Nikhil; 234 Escuela Avenue, Mountain View,
CA 94040 (US). MITTY, Nagaraj; 1251
Ballard Court, San Jose, CA 95131 (US).
(74) CONLEY, ROSE & TAYON, P.C.; Kivlin,
B., Noel, P.O. Box 398, Austin, TX 78767
(US).
(81) AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR
BY BZ CA CH CN CR CU CZ DE DK DM
DZ EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU
ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK
LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW
MX MZ NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI
SK SL TJ TM TR TT TZ UA UG UZ VN YU
ZA ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ
UG ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU
TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI
FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR); OA
(BF BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR
NE SN TD TG).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G06F 11/00
(11) WO 01/37091
(21) PCT/US00/42148
(13) A2
(22) 13 Nov/nov 2000 (13.11.2000)
(25) en (26) en
(30) 09/443,883 18 Nov/nov 1999
(18.11.1999)
US
(43) 25 May/mai 2001 (25.05.2001)
(54) METHOD OF DISCRIMINATING BE-
TWEEN DIFFERENT TYPES OF SCAN
FAILURES, COMPUTER READABLE
CODE TO CAUSE A DISPLAY TO
GRAPHICALLY DEPICT ONE OR
MORE SIMULATED SCAN OUTPUT
DATA SETS VERSUS TIME AND A
COMPUTER IMPLEMENTED CIR-
CUIT SIMULATION
PROCEDE PERMETTANT DE FAIRE
LA DISTINCTION ENTRE DIFFE-
RENTS TYPES D’INTERRUPTIONS
DE BALAYAGE SIMULEES, CODE
LISIBLE PAR L’ORDINATEUR DES-
TINE A ILLUSTRER GRAPHIQUE-
MENT EN RELATION AU TEMPS
SUR UN ECRAN UN OU PLUSIEURS
ENSEMBLES DE DONNEES SOR-
TANTES DE BALAYAGE SIMULEES
ET SYSTEME INFORMATIQUE DE
SIMULATION DE CIRCUIT
(71) KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRON-
ICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1,
NL-5621 BA Eindhoven (NL).
(only for / seulement pour AT BE CH CN CY
DE DK ES FI FR GB GR IE IT JP KR LU NL
PT SE TR)
(71) PHILIPS SEMICONDUCTORS, INC.
[US/US]; Legal Dept., 811 E. Arques Avenue,
MS 54, Sunnyvale, CA 94088-3409
(US).
(only for / seulement pour MC)
(72) SOUEF, Laurent; 3 Lot des Chaumettes,
F-83440 Montauroux (FR). BOMBAL,
Jérôme; Quartier Soanes, F-06340 La Trinité
(FR).
(74) FLIEGEL, Frederick, M.; Wells, St. John,
Roberts, Gregory & Matkin P.S., Suite 1300,
601 West First Avenue, Spokane, WA 99201-
3828 (US).
(81) CN JP KR.
(84) EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR
IE IT LU MC NL PT SE TR).
(51) 7 G06F 11/14
(11) WO 01/37092 (13) A1
(21) PCT/EP00/11160
(22) 10 Nov/nov 2000 (10.11.2000)
(25) en (26) en
(30) 09/439,727 12 Nov/nov 1999 US
(12.11.1999)
(43) 25 May/mai 2001 (25.05.2001)
(54) APPARATUS AND METHOD FOR IN-
CREASING THE SYNCHRONIZATION
SPEED BETWEEN A FIRST DEVICE
AND A SECOND DEVICE
APPAREIL ET PROCEDE PERMET-
TANT D’AUGMENTER LA VITESSE
DE SYNCHRONISATION ENTRE UN
PREMIER ET UN SECOND DISPOSI-
TIFS
(71) TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERIC-
SSON (PUBL) [SE/SE]; S-126 25 Stockholm
(SE).
(72) BIRKLER, Jörgen; N. Skolgatan 29 B,
S-214 22 Malmö (SE).
(74) ERICSSON MOBILE COMMUNICA-
TIONS AB; IPR Department, S-221 83 Lund
(SE).
(81) AE AG AL AM AT AT (Utility model / modèle
d’utilité) AUAZBABBBGBRBYBZ
CA CH CN CR CU CZ CZ (Utility model /
modèle d’utilité) DE DE (Utility model / modèle
d’utilité) DK DK (Utility model / modèle
d’utilité) DM DZ EE EE (Utility model / modèle
d’utilité) ES FI FI (Utility model / modèle
d’utilité) GBGDGEGHGMHRHUIDIL
IN IS JP KE KG KP KR KR (Utility model
/ modèle d’utilité) KZLCLKLRLSLTLU
LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO
NZ PL PT RO RU SD SE SG SI SK SK (Utility
model / modèle d’utilité)SLTJTMTRTT
TZ UA UG UZ VN YU ZA ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ
UG ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU
TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI
FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR); OA
(BF BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR
NE SN TD TG).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G06F 11/16, H04B 7/26
(11) WO 01/37093 (13) A1
(21) PCT/SE00/02269
(22) 17 Nov/nov 2000 (17.11.2000)
(25) en (26) en
(30) 09/443,154 18 Nov/nov 1999
(18.11.1999)
US