Influence of the natural aluminium oxide layer on ... - ALU-WEB.DE
Influence of the natural aluminium oxide layer on ... - ALU-WEB.DE
Influence of the natural aluminium oxide layer on ... - ALU-WEB.DE
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
AlMgSi(Cu) alloys”; Mat. Corr., 2008, 59, 670-675.<br />
[2] B. Zaid, D. Saidi, A. Benzaid, S. Hadji;“ Effects<br />
<str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> pH and chloride c<strong>on</strong>centrati<strong>on</strong> <strong>on</strong> pitting<br />
corrosi<strong>on</strong> <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> AA6061 aluminum alloy“; Corros.<br />
Sci., 2008, 50, 1841-1847.<br />
[3] www.aluinfo.de, 2011.<br />
[4] U. Rammelt, S. Koehler, G. Reinhard; “Use <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g><br />
vapour phase corrosi<strong>on</strong> inhibitors in packages for<br />
protecting mild steel against corrosi<strong>on</strong>”; Corros.<br />
Sci., 2009, 51, 921-925.<br />
[5] S. Koehler, G. Reinhard; “Temporärer Korrosi<strong>on</strong>sschutz”,<br />
Maschinenbau, 2008, 7, 34-37.<br />
[6] G. Reinhard, S. Lautner; “Temporärer Korro-<br />
si<strong>on</strong>sschutz v<strong>on</strong> Aluminiumwerkst<str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g>fen mit flüch-<br />
tigen Korrosi<strong>on</strong>sinhibitoren”; “GfKORR-Jahres-<br />
��������������<br />
���������<br />
�������<br />
���������������������<br />
�������������������������<br />
�������������������<br />
�������������������������������<br />
�������������������������������������<br />
������������������������������������<br />
�������������������������������������<br />
�������������������������������������������<br />
������������������������������������������<br />
����������������������������������������������<br />
��������������������������������������������<br />
����������������������������<br />
��������������������������������������<br />
������������<br />
������������������������������<br />
������������������������<br />
�������������������������������<br />
���������������������������������������<br />
�������������������������<br />
��������������������<br />
�����������������<br />
����������������������������<br />
�������������������������������<br />
����������������������<br />
��������������������������<br />
��������������������������������������<br />
����������������������������������<br />
���������������������������������<br />
���������������������<br />
�����������<br />
�������������������������������������<br />
�������������������������������������<br />
�������������������������������<br />
�������������������������������<br />
����������������������������������<br />
�����������������������������������<br />
���������������������������������������<br />
������������������������<br />
���������������������������������������<br />
������������������<br />
������������������<br />
���������������������������������������������<br />
��������� ������� ���� ������ ������ ���������������<br />
�������������������������������������������������<br />
������������ ��������� ������ ���� ������ �����������<br />
APPLICATION-ORIENTED TECHNOLOGIES<br />
tagung 1998”, 1998, 97-108.<br />
[7] H. Thompsen, F.H. Rögner; “Reinigen und Vorbehandeln<br />
– Keine triviale Angelegenheit”; Metalloberfläche,<br />
2007, 61, 44-47.<br />
[8] H. Kollek „Reinigen und Vorbehandeln“, Curt<br />
R. Vincentz Verlag, Hannover, 1996, 13-20.<br />
[9] A. Bart, M.Stratmann (ed.); “Encyclopedia <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g><br />
Electrochemistry“ vol. 4 „Corrosi<strong>on</strong> and Oxide<br />
films“; Vol. Editors: M. Stratmann, G.S. Frankel;<br />
Wiley VCH Weinheim 2003; Chapter 2.<br />
[10] Kyung-Keun Lee, Kwang-Bum Kim; “Electrochemical<br />
impedance characteristics <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> pure Al<br />
and Al–Sn alloys in NaOH soluti<strong>on</strong>”; Corros. Sci.,<br />
2001, 43, 561-575.<br />
[11] Y. L. Cheng, Z. Zhang, F. H. Cao, J. F. Li, J. Q.<br />
���������������������������������������������������<br />
��������������������������������������������<br />
��������������������������������������������<br />
���������<br />
�������������������<br />
��������������������������������������������������<br />
��������������������������������������������������<br />
�������������������������������������������������<br />
���������������������������������������������������<br />
���� ������� ���������� ��� ���������� ��������<br />
�����������������������������������������������������<br />
������������������<br />
�����������������������������������������������������<br />
���� ������������ ����� ����������������� �����������<br />
����� ����������� ���������� ���� ������� ��������<br />
���� ���������������������� ���� ����� �����������<br />
���� ��������� ����������� ���� ���������� ���� ����� ����<br />
���������� ���� ��������������������� ���������������<br />
������������������������������������������������<br />
���������� ��� ��������������� ���������� ���� �������<br />
��������������������������������������������������<br />
��������������������������������������������������<br />
����������������������������������������������������<br />
����������������������������������������������<br />
��������������������������������������������������<br />
�������������������<br />
��������������������������������������������������������<br />
��������������������������������������������������������<br />
���������������������������������������������������������������<br />
�����������������������������������������������������������<br />
�����������������������������������������������������������<br />
����������������� ���������������� ���������������� ���� �����<br />
������������������������������������������������������<br />
����������������������������������������������������������<br />
����� �������� ��� ����������� ���� ��������� ��� ������������<br />
����������������������������������������������������������<br />
��������������������������������������������������������<br />
������������������������������������������������������<br />
���������������������������������������������������<br />
���������������<br />
�������������������� �������������������������������������<br />
������������������<br />
����������������<br />
�������������������������������������<br />
�����������<br />
�������������������������������������<br />
������������<br />
���������������������������������������<br />
���������������<br />
���������������������������������������<br />
������������������<br />
Zhang, J. M. Wang and C. N. Cao; “Study <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> <str<strong>on</strong>g>the</str<strong>on</strong>g><br />
potential electrochemical noise during corrosi<strong>on</strong><br />
process <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> aluminum alloys 2024, 7075 and pure<br />
aluminum (pages 601–608)”; Mat. Corr., 2003, 54,<br />
601-608.<br />
[12] F.M. Queiroz, M. Magnani, I. Costa, H.G. de<br />
Melo; “Investigati<strong>on</strong> <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> <str<strong>on</strong>g>the</str<strong>on</strong>g> corrosi<strong>on</strong> behaviour <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g><br />
AA 2024-T3 in low c<strong>on</strong>centrated chloride media“;<br />
Corros. Sci., 2008, 50, 2646-2657.<br />
[13] D. Mercier, M.-G. Barthés-Labrousse; “The role<br />
<str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> chelating agents <strong>on</strong> <str<strong>on</strong>g>the</str<strong>on</strong>g> corrosi<strong>on</strong> mechanisms<br />
<str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> <str<strong>on</strong>g>aluminium</str<strong>on</strong>g> in alkaline aqueous soluti<strong>on</strong>s”; Corros.<br />
Sci., 2009, 51, 339-348.<br />
[14] C.M. v<strong>on</strong> Klingspor, Bachelor-Thesis, HTW-<br />
University <str<strong>on</strong>g>of</str<strong>on</strong>g> Applied Science Dresden, 2011. �<br />
��������������������������������<br />
��������������������������������<br />
�������������������<br />
����������������<br />
�������������������������������������<br />
�����������<br />
�������������������������������������<br />
������������<br />
���������������������������������������<br />
���������������<br />
����������������������������������������<br />
������������������<br />
������������<br />
�����������������<br />
���������������������������������<br />
������������� ���������<br />
������������ ���������<br />
�����������������������������������������������<br />
������<br />
�������������������������������<br />
�������������������������������������������<br />
������������������������������������ ������������������������<br />
���������������������<br />
�������������������������������������������<br />
��������������������������������������<br />
�������������������<br />
�������������������������<br />
��������������������������<br />
������������������������������������<br />
�����������������������<br />
����������������������<br />
������������������������������<br />
�������<br />
��������������������<br />
�����������������<br />
�������������������������<br />
���������������<br />
������������������������������������������<br />
������������������������������<br />
�������������������������������������������<br />
�������������������������������������������<br />
�������������<br />
�����������������������<br />
�����������������������������������<br />
�����������������������������������������<br />
���������������������������������������<br />
������������������������<br />
<strong>ALU</strong>MINIUM · EAC CONGRESS 2011 53