1-2017
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
Fachzeitschrift für Elektronik-Produktion - Fertigungstechnik, Materialien und Qualitätsmanagement
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
Qualitätssicherung<br />
Tiefenscharfe Aufnahmen bis in den<br />
Submikrometer-Bereich<br />
Keyence brachte ein neues<br />
Objektiv auf den deutschen Markt,<br />
welches vom makroskopischen<br />
Bereich bis in den Submikrometer-<br />
Bereich optisch auflösen kann. Verschiedene<br />
Beleuchtungstechniken,<br />
wie Polarisation, Hellfeld, Dunkelfeld<br />
und Keyence-Mix-Beleuchtung,<br />
ermöglichen eine vielseitige Visualisierung<br />
von Details.<br />
Das neue Zoom-Objektiv kombiniert<br />
die Beleuchtungstechniken<br />
eines metallurgischen und eines<br />
stereo skopischen Mikroskops,<br />
sprich Hell- und Dunkelfeld. Somit<br />
bietet es ein breites Spektrum an<br />
Visualisierungsmethoden. Vor allem<br />
die Funktion der Mix-Beleuchtung<br />
ermöglicht eine klare und individuelle<br />
Betrachtung des gesamten<br />
Messobjekts. Eine komplett tiefenscharfe<br />
Bildgebung ist auch hierbei<br />
stets gegeben.<br />
Beleuchtungseinstellungen können<br />
exakt gespeichert und später<br />
erneut aufgerufen werden. Das<br />
bedeutet eine schnelle und reproduzierbare<br />
Bilderfassung. Das Objektiv<br />
verfügt über zwei Linsensysteme,<br />
zwischen denen mit einer kurzen<br />
Handbewegung schnell gewechselt<br />
werden kann. Das kompakte<br />
Design bedeutet, dass sich das<br />
zweifache Zoom-Objektiv einfach<br />
an ein Mikroskop der Modellreihe<br />
VHX anschließen lässt und<br />
sofort einsatzbereit ist. Das Mikroskop<br />
deckt nun einen sehr großen<br />
optischen Vergrößerungsbereich<br />
mit nur einem einzigen Objektiv<br />
ab. So lassen sich dank des<br />
neuen Zoom-Objektivs und des<br />
flexiblen Keyence-Stativs unterschiedliche<br />
Details eines Objekts<br />
aus verschiedenen Betrachtungswinkeln<br />
visualisieren.<br />
Keyence Deutschland GmbH<br />
mikroskopie@keyence.de<br />
www.keyence.de<br />
1/<strong>2017</strong><br />
CT350 Comet T - eine Klasse für sich<br />
- Skalierbare Modultechnik, frei austauschbar<br />
- einheitliches Software-Paket und Bussystem<br />
=> Testerressourcen nach Bedarf, geringe Kosten<br />
Besondere Eigenschaften<br />
- Incircuit-Test, Funktionstest, AOI-Funktionen und Boundary Scan Test<br />
in einem einzigen Testsystem<br />
- Mixed Signal-Tests, 300 MS/s digital, 1 GS/s analog<br />
- CAD-Daten-Import, Programmgenerator<br />
- sehr schnelle Inline-, Nutzen- und Multisite Tests<br />
- Testabdeckungsanalyse, grafische Reparaturstation<br />
- Debugging Tools, internes Digital Scope und<br />
Waveform-Generator an jedem Testpunkt<br />
- Logging- und Statistikfunktionen<br />
- interne Testersteuerung mit Real Time DSP/RISC<br />
- Amplitudenauflösung bis 24 Bit, Impulsmessungen<br />
- konkurrentes Engineering für Entwicklung, Fertigung<br />
Schneller und zuverlässiger Support<br />
In-Circuit-Test<br />
Funktionstest<br />
Komponententest<br />
Inline-Test<br />
Halbleitertest<br />
Boundary Scan Test<br />
AOI-Test<br />
Dr. Eschke Elektronik<br />
www.dr-eschke.de Email info@dr-eschke.de Tel. 030 56701669<br />
45