XI Seminario de Investigación - Facultad de IngenierÃa - Universidad ...
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<strong>XI</strong> SEMINARIO DE INVESTIGACIÓN<br />
27 y 28 <strong>de</strong> Noviembre <strong>de</strong> 2008<br />
Mérida, Yucatán, México.<br />
PREPARACIÓN Y CARACTERIZACIÓN DE PELÍCULAS DELGADAS DE Ó<strong>XI</strong>DO<br />
DE TUNGSTENO USANDO LAS TÉCNICAS DE RF SPUTTERING Y SOL-GEL.<br />
Milenis Acosta 1 , Inés Riech 1 , David González 1 y Caridad Vales 1<br />
<strong>Facultad</strong> <strong>de</strong> Ingeniería, <strong>Universidad</strong> Autónoma <strong>de</strong> Yucatán, México. adiaz@uady.mx<br />
RESUMEN<br />
El óxido <strong>de</strong> tungsteno es un material que presenta propieda<strong>de</strong>s electrocrómicas y<br />
gasocrómicas que lo convierten en un candidato i<strong>de</strong>al para dispositivos tales como<br />
sensores, ventanas inteligentes, baterías, etc. Actualmente la tecnología <strong>de</strong> estos<br />
dispositivos se basa en películas <strong>de</strong>lgadas. Para la obtención <strong>de</strong> estas películas<br />
existe una amplia gama <strong>de</strong> técnicas que varían en costo, complejidad y ventajas que<br />
ofrecen <strong>de</strong> acuerdo a las propieda<strong>de</strong>s <strong>de</strong>seadas. En el laboratorio <strong>de</strong> Ciencia <strong>de</strong><br />
Materiales <strong>de</strong> la FIUADY se implementaron las técnicas <strong>de</strong> RF sputtering y sol-gel,<br />
para la obtención <strong>de</strong> películas <strong>de</strong>lgadas <strong>de</strong> óxido <strong>de</strong> tungsteno sobre vidrio.<br />
Para los crecimientos con sputtering empleamos un blanco <strong>de</strong> WO3, variando la<br />
presión <strong>de</strong> argón (PAr) en el rango <strong>de</strong> 10 a 80 mTorr. Las propieda<strong>de</strong>s estructurales<br />
y morfológicas <strong>de</strong> las películas fueron obtenidas empleando las técnicas <strong>de</strong> difracción<br />
<strong>de</strong> rayos X (XRD) y microscopía <strong>de</strong> fuerza atómica (AFM). Las películas <strong>de</strong>positadas<br />
eran amorfas in<strong>de</strong>pendientemente <strong>de</strong> la PAr utilizada y al someterlas a tratamientos<br />
térmicos a 350 0 C cristalizaron en una mezcla <strong>de</strong> fases monoclínica y hexagonal <strong>de</strong><br />
WO3. Las imágenes <strong>de</strong> AFM mostraron que las películas crecidas a diferentes<br />
presiones poseen una rugosidad promedio <strong>de</strong> 1 nm, incrementándose en un or<strong>de</strong>n<br />
<strong>de</strong> magnitud con el tratamiento térmico.<br />
Las propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> las muestras variaron <strong>de</strong> acuerdo a la PAr empleada<br />
obteniéndose diferente coloración y transmitancia en la región visible, ver Fig. 1. El<br />
gap <strong>de</strong> las películas varió <strong>de</strong> acuerdo a la presión empleada. La crecida a 20 mTorr<br />
tuvo un valor <strong>de</strong> 2.38 eV, mientras que la crecida a 80 mTorr tuvo un valor <strong>de</strong> 3.14<br />
eV. Los cambios observados en las propieda<strong>de</strong>s ópticas se asocian con un número<br />
creciente <strong>de</strong> vacancias <strong>de</strong> oxígeno a medida que la PAr aumenta.<br />
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