Тезисы докладов - Институт катализа им. Г.К. Борескова

ПЛ-2
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЛОКАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ
НАНОМАТЕРИАЛОВ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИМ
МЕТОДОМ РАДИАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ
ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ
10
Э.М. Мороз
Институт катализа им.Г.К.Борескова СО РАН,
Новосибирск, Россия
E-mail: Emoroz@catalysis.ru
Основным физическим методом исследования объемной структуры
твердых тел остается рентгеновская дифракция. Рентгенографические
методы дают информацию о фазовом составе образцов, о
кристаллической структуре (параметрах элементарной ячейки, координатах
атомов, заселенности позиций), о размерах областей когерентного
рассеяния (ОКР), микроискажениях, плотности дислокаций,
Однако общая дифракционная картина характеризует
только усредненную структуру материалов.
Особых подходов требует изучение наноматериалов поскольку
такие материалы дают дифракционную картину, характерной особенностью
которой является, как правило, большой фон, широкие
и мало интенсивные дифракционные пики из-за малых ОКР и плохой
окристаллизованности. Локальная структура наноматериалов
часто отличается от усредненной, однако именно она может определять
такие их важные свойства, как термостабильность, прочность,
каталитические свойства.
Рентгенографический метод радиального распределения электронной
плотности (РРЭП), основанный на анализе не отдельных
дифракционных пиков, а всей дифракционной картины в широкой
области углов Вульфа-Брэгга, дает информацию о локальной
структуре - межатомных расстояниях, координационных числах,
статических искажениях. Он чувствителен к изменениям этих параметров
в области, протяженностью 1-3 элементарных ячеек.
Кроме того, метод РРЭП может быть использован для обнаружения
фаз с размерами ОКР менее 3 нм, которые не выявляются при
обычном фазовом анализе, поскольку каждая фаза обладает своим
набором межатомных расстояний и координационных чисел и
кратчайшие расстояния проявляются всегда из-за обязательного