Abschlussbericht
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<strong>Abschlussbericht</strong><br />
Trusted Sensor Node<br />
des TSN verbraucht werden. Dafür kommen Pads und Cache in Frage. Beide werden in<br />
der Simulation bei der Bestimmung der Leistungsaufnahme nicht berücksichtigt, da für<br />
diese keine geeigneten Bibliotheksinformationen vorliegen.<br />
Programm VDDPad VDDCore<br />
AES auf TSN 11,20 mA 44,70 mA<br />
AES_dum auf TSN 11,17 mA 43,30 mA<br />
AES in Simulation - 21,0 mA<br />
AES_dum in Simulation - 19,7 mA<br />
Tabelle 5.1: Messungen der Stromaufnahme für den AES<br />
Programm VDDPad VDDCore<br />
ECC auf TSN 11,07 mA 49,09 mA<br />
ECC_dum auf TSN 11,11 mA 40,51 mA<br />
ECC in Simulation - 29,63 mA<br />
ECC_dum in Simulation - 18,76 mA<br />
Tabelle 5.2: Messungen der Stromaufnahme für den ECC<br />
5.5 Lebensdauertest<br />
Der Lebensdauertest wurde mit zwei verschiedenen Szenarien durchgespielt. Zunächst<br />
erfolgte die Stromversorgung über 3 NiMH-Akkus mit einer Kapazität von je 2700 mAh.<br />
Dabei wurde eine Laufzeit von ca. 20 Stunden für den TSN-Knoten ermittelt. Nach dieser<br />
Zeit war die Spannung an der belasteten Spannungsquelle auf 2,4 V eingebrochen, so<br />
dass auf der Platine integrierte Spannungswandler den unteren Arbeitspunkt erreicht hatte.<br />
Der zweite Test wurde mit einer Solarzellen-Akku-Kombination durchgeführt. Dabei wurde<br />
eine durchschnittliche Betriebsdauer von 16 Stunden ermittelt. Eine Aufladung des Akkus<br />
mit Hilfe der Solarzellen fand nicht statt, so dass bei Sonneneinstrahlung mit verlängerter<br />
Lebensdauer zu rechnen ist.<br />
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