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in-situ röntgendiffraktion zur charakterisierung von mechanischen ...

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5.2 Mit Komb<strong>in</strong>ationsmethode gemessene REK bei Raumtemperatur<br />

5. Zusammenfassung<br />

Die Ergebnisse der experimentellen Bestimmung <strong>von</strong> REK an polykristall<strong>in</strong>en Al- und Cu<br />

Schichten mittels der Komb<strong>in</strong>ationsmethode zeigten, dass diese Messmethode bei<br />

Raumtemperatur e<strong>in</strong>fach durchführbar ist und h<strong>in</strong>sichtlich der Referenzproben gute<br />

Ergebnisse liefert.<br />

E<strong>in</strong> Vorteil der vorgestellten Technik ist die E<strong>in</strong>fachheit des Messaufbaus bei<br />

Raumtemperatur, aber auch die Möglichkeit ohne zusätzliche mechanische Werkzeuge<br />

(Vierpunktbiegemasch<strong>in</strong>e, Zugmasch<strong>in</strong>e) die Bestimmung <strong>von</strong> REK e<strong>in</strong>es Schichtmaterials<br />

durchzuführen. E<strong>in</strong> weiterer Vorteil der Komb<strong>in</strong>ationsmethode im Vergleich zu Messungen<br />

mittels Zug- oder Biegemasch<strong>in</strong>en ist die e<strong>in</strong>fache Probenpräparation. Die Präparation <strong>von</strong><br />

freistehenden dünnen Filmen oder Proben <strong>in</strong> der Form e<strong>in</strong>er Flachzugprobe erfordern e<strong>in</strong>en<br />

wesentlichen Zeitaufwand und die entsprechenden technologischen Hilfsmittel. Bei der<br />

Verwendung der Komb<strong>in</strong>ationsmethode kann auf derartige Präparationstechniken verzichtet<br />

werden. Die Forderung an die Probengeometrie ist bei der Komb<strong>in</strong>ationsmethode e<strong>in</strong>zig<br />

durch die Annahme des biaxialen Spannungszustandes festgelegt. Zur Berechnung der<br />

elastischen Konstanten mittels der vorliegenden Methode ist also der Präparationsaufwand<br />

äußerst ger<strong>in</strong>g.<br />

Die Verifikation der Methode erfolgte mittels Al- und Cu-Schichten unterschiedlicher<br />

Schichtdicke auf Si(100) Substraten. Die REK Bestimmung bei der Al-Messserie erfolgte für<br />

polykristall<strong>in</strong>e Schichten mit Dicken zwischen 400nm und 3.2µm auf Si(100) Substraten<br />

zwischen 100µm und 300µm Dicke. Bei den Cu-Schichten erfolgte die REK Bestimmung an<br />

200nm bis 2.4µm dicken Schichten auf Si(100) Substraten zwischen 140µm und 310µm<br />

Dicke. Die Ergebnisse der durchgeführten Applikationsmessungen mittels der<br />

Komb<strong>in</strong>ationsmethode konnten anschließend <strong>zur</strong> Berechnung der REK bei Raumtemperatur<br />

herangezogen werden.<br />

Es zeigten sich sowohl bei der Dehnungsbestimmung mittels s<strong>in</strong> 2 ψ Methode, aber auch bei<br />

der unabhängig durchgeführten, röntgenographischen Substratkrümmungsmessung l<strong>in</strong>eare<br />

Zusammenhänge im s<strong>in</strong> 2 ψ- und ∆ω−∆x-Graph (vgl. Abbildungen 4.8, 4.10, 4.13, 4.14). Dies<br />

bestätigt die Annahmen <strong>zur</strong> Anwendbarkeit der Komb<strong>in</strong>ationsmethode (vgl. Kapitel 2.2.4<br />

und 2.4.1).<br />

Die <strong>in</strong>dividuellen Resultate <strong>von</strong> s1 331 und 0.5·s2 331 für die Al-Schichten s<strong>in</strong>d aus der Tabelle 3<br />

zu entnehmen. Die <strong>in</strong>dividuellen REK der Cu-Messserie s1 311 und 0.5·s2 311 s<strong>in</strong>d <strong>in</strong> Tabelle 6<br />

ersichtlich. Es zeigt sich, dass bei e<strong>in</strong>er Messgenauigkeit <strong>von</strong> ∆ω=0.005°, ∆2θ=0.01° und<br />

e<strong>in</strong>er x,y-Positioniergenauigkeit der Probe <strong>von</strong> ∆x=0.01mm die <strong>in</strong>dividuellen REK mit<br />

Fehler <strong>von</strong> ~10% zu Referenzwerten aus der Literatur bestimmt werden können.<br />

Unter der Annahme, dass alle Proben e<strong>in</strong>er Messserie aus dem gleichen Material bestehen,<br />

werden aus den <strong>in</strong>dividuellen REK die Mittelwerte gebildet. Der Vergleich der Mittelwerte<br />

mit den Literaturwerten zeigt für Al und Cu e<strong>in</strong>e Übere<strong>in</strong>stimmung >95%. Diese<br />

berechneten Mittelwerte s<strong>in</strong>d folgend tabellarisch den Literaturwerten gegenübergestellt:<br />

REK Komb<strong>in</strong>ationsmethode Kröner [114, 123]<br />

Al s1 331 (Pa -1 ) -0.479·10 -11 ±2.2·10 -13 -0.484·10 -11<br />

Al 0.5·s2 331 (Pa -1 ) 1.878·10 -11 ±3.4·10 -13 1.882·10 -11<br />

Cu s1 311 (Pa -1 ) -0.301·10 -11 ±3.6·10 -13 -0.290·10 -11<br />

Cu 0.5·s2 311 (Pa -1 ) 1.185·10 -11 ±8.1 ·10 -13 1.106·10 -11<br />

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