in-situ röntgendiffraktion zur charakterisierung von mechanischen ...
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4. Ergebnisse und Diskussion<br />
4.5.2 Spannungsentwicklung als Funktion der Temperatur<br />
Als Folge e<strong>in</strong>er mehrjährigen Aufbewahrungszeit wurden die Proben vor der thermischen<br />
Belastung bei 400°C für 15m<strong>in</strong> ausgelagert. Damit erfolgte e<strong>in</strong>e Kompensation <strong>von</strong><br />
Spannungsrelaxationen über die Aufbewahrungszeit. Als Kontrolle der erfolgreichen<br />
Wiederherstellung des ursprünglichen Spannungszustandes erfolgte e<strong>in</strong>e Vergleichsmessung<br />
der thermischen Spannungsentwicklung. Dieser Vergleich erfolgte zwischen der<br />
röntgenographischen Messung nach der Auslagerung und e<strong>in</strong>er Substratkrümmungsmessung<br />
direkt nach der Beschichtung. Abbildung 4.32 zeigt den Vergleich der temperaturabhängigen<br />
Spannungsentwicklung e<strong>in</strong>er 600nm dicken Al-Schicht.<br />
σ <strong>in</strong>pl (MPa)<br />
400<br />
300<br />
200<br />
100<br />
0<br />
-100<br />
heizen<br />
kühlen<br />
Diffraktion<br />
Substrat<br />
Krümmung<br />
0 50 100 150 200 250 300 350 400<br />
Temperatur (°C)<br />
Abbildung 4.32: Vergleich der Spannungsentwicklung bei Temperaturbelastung<br />
zwischen Substratkrümmungsmethode (unmittelbar nach der Herstellung) und<br />
Diffraktionsmessung (nach längerer Aufbewahrungszeit).<br />
Der Vergleich des σ<strong>in</strong>pl−T Verlaufes zeigt e<strong>in</strong>e Übere<strong>in</strong>stimmung mit e<strong>in</strong>er maximalen<br />
Abweichung der Spannungswerte <strong>von</strong> 40MPa. Der gemessene Spannungswert nach der<br />
thermischen Belastung stimmt also für die röntgenographische Messung (340±34MPa) mit<br />
der Substratkrümmungsmessung (360±36MPa) übere<strong>in</strong>. Der Unterschied zwischen den<br />
Werten der beiden Messungen kann der Genauigkeit der e<strong>in</strong>zelnen Messverfahren<br />
zugeordnet werden. Damit kann da<strong>von</strong> ausgegangen werden, dass durch den<br />
Auslagerungsprozess jegliche Degradation <strong>von</strong> Spannungen über die Aufbewahrungszeit<br />
kompensiert wurde.<br />
Anschließend erfolgte die thermische Belastung der Proben <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em Heiz- bzw. Kühlzyklus<br />
zwischen -100°C und 350°C. Dabei wurden die Proben <strong>von</strong> Raumtemperatur bis 350°C<br />
geheizt, anschließend bis -100°C gekühlt, und darauf h<strong>in</strong> wieder bis Raumtemperatur<br />
erwärmt. In ∆T=25°C Intervallen wurde die Temperatur für ~7m<strong>in</strong> konstant gehalten, und<br />
e<strong>in</strong>e Dehnungsbestimmung mittels der s<strong>in</strong> 2 ψ Methode erfolgte. Die Heizrate zwischen den<br />
Mess<strong>in</strong>tervallen kann dabei mit ∆T/t=12.5°C/m<strong>in</strong> angegeben werden.<br />
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