in-situ röntgendiffraktion zur charakterisierung von mechanischen ...
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2. Theorie<br />
2.2.4 Auswirkungen mechanischer Anisotropie auf s<strong>in</strong> 2 ψ<br />
Unter Umständen zeigt sich bei Messergebnissen <strong>von</strong> polykristall<strong>in</strong>en Proben, dass ke<strong>in</strong><br />
l<strong>in</strong>earer Zusammenhang zwischen s<strong>in</strong> 2 ψ und den gemessenen Netzebenenabständen d hkl<br />
besteht. Dieses nichtl<strong>in</strong>eare Verhalten kann der elastischen Anisotropie zugeordnet werden<br />
[28]. Dabei werden je nach Art und Weise des Zusammenhanges zwischen dem<br />
Verkippungsw<strong>in</strong>kel und dem Netzebenenabstand drei Fälle unterschieden:<br />
• (a) Der isotrope, reguläre Fall, l<strong>in</strong>earer Zusammenhang<br />
• (b) Der reguläre Fall, ψ-Splitt<strong>in</strong>g<br />
• (c) Der stark nichtl<strong>in</strong>eare Fall, oszillierender Zusammenhang<br />
Diese s<strong>in</strong>d <strong>in</strong> Abbildung 2.5 schematisch dargestellt.<br />
(a) (b) (c)<br />
Abbildung 2.5: Unterschiedliche Formen des Zusammenhangs zwischen<br />
Verkippungsw<strong>in</strong>kel ψ und dem gemessenen Netzebenenabstand d im s<strong>in</strong> 2 ψ-Graph. Die<br />
Fälle (a) und (b) repräsentieren e<strong>in</strong>en regulären s<strong>in</strong> 2 ψ-Verlauf und der Fall (c) den<br />
oszillierenden, nicht regulären Verlauf.<br />
Fall a repräsentiert den Idealfall des l<strong>in</strong>earen Zusammenhangs zwischen Verkippungsw<strong>in</strong>kel<br />
und Netzebenenabstand. Dieses l<strong>in</strong>eare Verhalten kann mittels der Grundgleichung der s<strong>in</strong> 2 ψ<br />
Methode erklärt werden (Gleichung (2.20)). Darum existiert auch die Möglichkeit aus der<br />
Steigung des s<strong>in</strong> 2 ψ Verlaufes den Dehnungs- bzw. Spannungszustand zu bestimmen.<br />
Fall b zeigt e<strong>in</strong>en regulären, jedoch nicht l<strong>in</strong>earen Verlauf für die Abhängigkeit des<br />
Netzebenenabstandes vom Verkippungsw<strong>in</strong>kel. E<strong>in</strong>e derartige Abhängigkeit wird als<br />
ψ-Splitt<strong>in</strong>g bezeichnet [35]. E<strong>in</strong>e Dehnungsberechnung mittels der s<strong>in</strong> 2 ψ Methode is <strong>in</strong><br />
diesem Fall durchführbar. E<strong>in</strong> Ansatz dafür wird <strong>in</strong> e<strong>in</strong>er Arbeit <strong>von</strong> Dölle und Hauk [36]<br />
beschrieben.<br />
Fall c beschreibt e<strong>in</strong>en oszillierenden Zusammenhang zwischen Verkippung und<br />
Gitterabstand. Dieser Fall ist nicht über den allgeme<strong>in</strong>en Zusammenhang (Gleichung (2.20))<br />
beschreibbar und <strong>von</strong> e<strong>in</strong>er Evaluierung mittels des s<strong>in</strong> 2 ψ-Verfahrens muss abgesehen<br />
werden. Alternative Ansätze <strong>zur</strong> Spannungsberechnung existieren, werden hier aber nicht<br />
diskutiert sondern nur aufgezählt:<br />
• Marion – Cohen Methode [37]<br />
• Dölle – Hauk Methode [38]<br />
• Peiter – Lode Methode [39, 40]<br />
Sowohl ψ-Splitt<strong>in</strong>g als auch Oszillationen im s<strong>in</strong> 2 ψ-Graph s<strong>in</strong>d auf die mechanische<br />
Anisotropie zwischen den Kristalliten e<strong>in</strong>er Schicht <strong>zur</strong>ückzuführen. Auch die Präsenz <strong>von</strong><br />
Schubspannungen (Fall b) oder Anisotropien <strong>in</strong>nerhalb der Kristallite (Fall c) können zu<br />
oszillierenden s<strong>in</strong> 2 ψ-Verläufen führen.<br />
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