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Fachzeitschrift für Medizintechnik-Produktion, Entwicklung, Distribution und Qualitätsmanagement

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Bild 2 oben: Bildschirmdarstellungen der gemessenen Oberflächenparameter<br />

Bild 2 unten: High-tech-Stanzteile von ODU<br />

Prüfungen selbst durchführen kann. Dazu<br />

setzt er das jeweils zu prüfende Teil auf die<br />

Teileaufnahme und stellt das Messgerät wie<br />

ein „normales“ Mikroskop manuell ein. Praktisch<br />

unmittelbar nachdem die elektronische<br />

Messung erfolgt ist, sind die gemessenen<br />

Werte auf einem Bildschirm digital, tabellarisch<br />

und graphisch sowie topografische 2Dund<br />

3D-Farbdarstellungen des gemessenen<br />

Probenbereichs zu sehen (Bild 2 oben). Auf<br />

einen Blick erkennt der Maschinenbediener,<br />

ob die Werte innerhalb der vorgegebenen<br />

Toleranzen liegen, und kann, falls nötig, korrigierend<br />

in den Produktionsprozess eingreifen,<br />

um kostspieligen Ausschuss zu vermeiden.<br />

Eine weitere Stärke des Messgerätes ist<br />

die im Vergleich zu anderen optischen Messgeräten<br />

sehr gute Wiederholbarkeit und Rückführbarkeit<br />

der Messungen. Das System lässt<br />

sich flexibel einsetzen und wird bei ODU auch<br />

für andere Messaufgaben genutzt, wie Stefan<br />

Wichterey hervorhebt: „Wir setzen das<br />

System selbstverständlich auch für andere<br />

Aufgaben ein und prüfen damit beispielsweise<br />

Drehteile, die für unterschiedliche High-tech-<br />

Anwendungen unter anderem in der Automobilindustrie<br />

vorgesehen sind“ (Bild 2 unten).<br />

Die ZeGage und die<br />

NewView-Reihe<br />

Die berührungslos wirkende Weißlicht-Interferometrie<br />

eignet sich sehr gut für prozessbegleitende<br />

Oberflächenprüfungen und wird seit<br />

mehr als 30 Jahren erfolgreich in der Industrie<br />

eingesetzt. Das Messgerät NewView, ein<br />

scannendes Weißlicht-Interferenz-Mikroskop,<br />

arbeitet mit gefiltertem Weißlicht. Während<br />

der Messung wird das Objektiv in der Höhe<br />

(Z-Richtung) um eine vorher festgelegte Weglänge<br />

verfahren, wobei der Interferenzfokus<br />

vertikal über die Oberfläche wandert. Das<br />

von der Objektoberfläche reflektierte Licht<br />

interferiert mit dem Licht einer Referenzfläche.<br />

Die vertikale Auflösung beträgt 0,1 nm.<br />

Das NewView erfasst polierte oder raue<br />

Oberflächen sowie Strukturen mit einer Rautiefe<br />

von bis zu 150 µm und arbeitet berührungslos<br />

mit kurzen Messzeiten durch Scan-<br />

Raten von bis zu 30 µm/s. Die erfassten Daten<br />

werden von der unter Windows 7 arbeitenden<br />

Analyse-Software MX von Ametek Germany<br />

GmbH BU Zygo ausgewertet, wobei<br />

ein von Ametek Germany GmbH BU Zygo<br />

patentierter Auswerte-Algorithmus zum Einsatz<br />

kommt. Die Rauheit und andere Oberflächenparameter<br />

wie Form, Volumen, Stufenhöhe<br />

und Welligkeit können tabellarisch<br />

dokumentiert, statistisch ausgewertet und in<br />

farbigen 2D- und 3D-Darstellungen angezeigt<br />

werden. Das ZeGage ist das neue Einstiegsmodell,<br />

dessen Messleistung dem mit komplexeren<br />

Funktionen ausgestatteten, modular aufgebauten<br />

und baukastenartig erweiterbaren<br />

Modell NewView in keiner Weise nachsteht.<br />

„Durch den Einsatz der NewView-Geräte<br />

kann die Produktions- und Produktqualität<br />

garantiert werden. Außerdem machen sie<br />

sich durch ihre vorteilhaften Eigenschaften in<br />

einer schnellen Amortisierung und einer dauerhaft<br />

guten Wirtschaftlichkeit bezahlt. Das<br />

System ist das erste Messgerät von Ametek<br />

Germany GmbH BU Zygo, das ODU einsetzt,<br />

und hat bislang die Erwartungen voll erfüllt,“<br />

so Stefan Wichterey.<br />

Ametek Germany GmbH<br />

BU Zygo GmbH<br />

www.zygolot.de<br />

meditronic-journal 1/<strong>2016</strong> 29

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