1-2016
Fachzeitschrift für Medizintechnik-Produktion, Entwicklung, Distribution und Qualitätsmanagement
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Bild 2 oben: Bildschirmdarstellungen der gemessenen Oberflächenparameter<br />
Bild 2 unten: High-tech-Stanzteile von ODU<br />
Prüfungen selbst durchführen kann. Dazu<br />
setzt er das jeweils zu prüfende Teil auf die<br />
Teileaufnahme und stellt das Messgerät wie<br />
ein „normales“ Mikroskop manuell ein. Praktisch<br />
unmittelbar nachdem die elektronische<br />
Messung erfolgt ist, sind die gemessenen<br />
Werte auf einem Bildschirm digital, tabellarisch<br />
und graphisch sowie topografische 2Dund<br />
3D-Farbdarstellungen des gemessenen<br />
Probenbereichs zu sehen (Bild 2 oben). Auf<br />
einen Blick erkennt der Maschinenbediener,<br />
ob die Werte innerhalb der vorgegebenen<br />
Toleranzen liegen, und kann, falls nötig, korrigierend<br />
in den Produktionsprozess eingreifen,<br />
um kostspieligen Ausschuss zu vermeiden.<br />
Eine weitere Stärke des Messgerätes ist<br />
die im Vergleich zu anderen optischen Messgeräten<br />
sehr gute Wiederholbarkeit und Rückführbarkeit<br />
der Messungen. Das System lässt<br />
sich flexibel einsetzen und wird bei ODU auch<br />
für andere Messaufgaben genutzt, wie Stefan<br />
Wichterey hervorhebt: „Wir setzen das<br />
System selbstverständlich auch für andere<br />
Aufgaben ein und prüfen damit beispielsweise<br />
Drehteile, die für unterschiedliche High-tech-<br />
Anwendungen unter anderem in der Automobilindustrie<br />
vorgesehen sind“ (Bild 2 unten).<br />
Die ZeGage und die<br />
NewView-Reihe<br />
Die berührungslos wirkende Weißlicht-Interferometrie<br />
eignet sich sehr gut für prozessbegleitende<br />
Oberflächenprüfungen und wird seit<br />
mehr als 30 Jahren erfolgreich in der Industrie<br />
eingesetzt. Das Messgerät NewView, ein<br />
scannendes Weißlicht-Interferenz-Mikroskop,<br />
arbeitet mit gefiltertem Weißlicht. Während<br />
der Messung wird das Objektiv in der Höhe<br />
(Z-Richtung) um eine vorher festgelegte Weglänge<br />
verfahren, wobei der Interferenzfokus<br />
vertikal über die Oberfläche wandert. Das<br />
von der Objektoberfläche reflektierte Licht<br />
interferiert mit dem Licht einer Referenzfläche.<br />
Die vertikale Auflösung beträgt 0,1 nm.<br />
Das NewView erfasst polierte oder raue<br />
Oberflächen sowie Strukturen mit einer Rautiefe<br />
von bis zu 150 µm und arbeitet berührungslos<br />
mit kurzen Messzeiten durch Scan-<br />
Raten von bis zu 30 µm/s. Die erfassten Daten<br />
werden von der unter Windows 7 arbeitenden<br />
Analyse-Software MX von Ametek Germany<br />
GmbH BU Zygo ausgewertet, wobei<br />
ein von Ametek Germany GmbH BU Zygo<br />
patentierter Auswerte-Algorithmus zum Einsatz<br />
kommt. Die Rauheit und andere Oberflächenparameter<br />
wie Form, Volumen, Stufenhöhe<br />
und Welligkeit können tabellarisch<br />
dokumentiert, statistisch ausgewertet und in<br />
farbigen 2D- und 3D-Darstellungen angezeigt<br />
werden. Das ZeGage ist das neue Einstiegsmodell,<br />
dessen Messleistung dem mit komplexeren<br />
Funktionen ausgestatteten, modular aufgebauten<br />
und baukastenartig erweiterbaren<br />
Modell NewView in keiner Weise nachsteht.<br />
„Durch den Einsatz der NewView-Geräte<br />
kann die Produktions- und Produktqualität<br />
garantiert werden. Außerdem machen sie<br />
sich durch ihre vorteilhaften Eigenschaften in<br />
einer schnellen Amortisierung und einer dauerhaft<br />
guten Wirtschaftlichkeit bezahlt. Das<br />
System ist das erste Messgerät von Ametek<br />
Germany GmbH BU Zygo, das ODU einsetzt,<br />
und hat bislang die Erwartungen voll erfüllt,“<br />
so Stefan Wichterey.<br />
Ametek Germany GmbH<br />
BU Zygo GmbH<br />
www.zygolot.de<br />
meditronic-journal 1/<strong>2016</strong> 29