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96 Caracterização Tecnológica de Minérios – Parte II CETEM
As análises exigem preparação especial das amostras, em secções delgadas (luz
transmitida), polidas (luz refletida), ou delgadas polidas (ambas). É possível analisar
fragmentos de rochas ou montagens de material particulado, embutido em resinas
(geralmente epóxi, acrílica ou poliéster).
Não é objetivo deste trabalho entrar em detalhes de petrografia em lâminas
delgadas ou metalografia em secções polidas, e existem diversos livros-texto clássicos
sobre o assunto (Tröger, 1979; P.F. Kerr, 1977; Wahlstrom, 1969; Bloss, 1961; Winchell,
1951; Deer, et al., 1975; Galopin & Henry, 1972; Uytenbogaard & Burke, 1971; Criddle &
Stanley, 1993; Craig & Vaughan, 1994).
A petrografia em secções delgadas é a melhor maneira de se identificar silicatos,
como os dos grupos dos feldspatos, piroxênios, anfibólios e micas, que apresentam
grande similaridade composicional ou estrutural, e portanto dificuldades para sua
identificação por MEV/EDS ou DRX, mas que são perfeitamente identificáveis ao
microscópio óptico. A quantificação das fases, por outro lado, é mais restrita; a clássica
análise modal, contagem manual de pontos com identificação da fase que se apresenta
no centro do campo de visão com incremento fixo da platina, é uma análise demorada,
que exige operador especializado, e, sendo uma análise em dimensão 0 (ponto), não
fornece mais informações do que a composição extrapolada para área, e mesmo isto
apenas se houver coerência estatística. Uma vez que as propriedades ópticas
diagnósticas da maioria dos minerais transparentes dependem da geometria da
intersecção do cristal e do ângulo de incidência da luz, as cores variam com o
movimento rotatório da platina, de maneira que o reconhecimento automático dos
minerais, por análise de imagens, é impraticável até o momento, com raras exceções.
A metalografia em secções polidas, por outro lado, é excelente para identificar
minerais opacos, mas os minerais transparentes em geral aparecem em cinza. Se na
amostra a ser analisada coexistirem minerais transparentes e opacos, há necessidade de
complementação da análise, e as secções delgadas e polidas de certa forma facilitam o
processo, permitindo análise sequencial em luz transmitida e refletida.
Apesar de diversos minerais exibirem pleocroísmo, em geral este é fraco, e não se
constitui num aspecto diagnóstico primordial. Desta forma, em luz refletida já é possível
automatização, e pelo processamento digital de um número adequado de imagens é
possível quantificação de fases e medidas de liberação, como será discutido adiante.
Difração de Raios X
A difração de raios X é outra das ferramentas básicas para caracterização
mineralógica de minérios. O método baseia-se na interação de ondas na frequência de
raios X (geralmente entre 0,70 e 2,30 Å) com os planos de repetição sistemática do
retículo cristalino, como pode ser visualizado esquematicamente na Figura 10. Pela
própria definição, portanto, aplica-se apenas a materiais cristalinos, e não a amorfos.