View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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8 Ergebnisse und Diskussion
518.0
-
'7
E 517.8
(,)
-- 6 517.6
~
·00
&. 517.4
c
Q)
~ 517.2
d=415 nm
•
d=466 nm
•
•
517.0
516.8
100
I
200 300
E (mJ)
400
Abb.8.7:
Lage der TO-Mode in Abhängigkeit der Laserpulsenergie für zwei Probenserien
mit 415 bzw. 466 nm Schichtdicke (A=1 064 nm, 200 Pulse, 20 Hz). Die Gerade
deutet den Trend an.
Um einen genaueren Zusammenhang zwischen den Korngrößen und der Laserenergie
herzustellen und um Angaben über eine eventuelle Vorzugsorientierung der Kristallite zu
erhalten, wurden XRD-Messungen in streifendem Einfall durchgeführt (vgl. Kap. 6.2).
Abb. 8.8 zeigt das XRD-Diffraktogramm einer Probe der Serie der 415 nm dicken Schichten
mit den Beugungsreflexen verschiedener Netzebenen.
Die Peakpositionen verschoben sich mit wachsender Laserenergie ähnlich wie die
Linienpositionen in den Raman-Spektren in Abb. 8.7. Dies deutet auf eine Verringerung der
Atomabstände mit steigender Energie hin (s. Diskussion). Das Verhältnis der Peakintensitäten
gibt Aufschluß über eine Vorzugsorientierung der Kristallite. In Abb. 8.9 ist für die 415 nm­
Serie das Verhältnis der {111}-, {220}- und {311}-Peakintensitäten gegen die
{ 111 }-Peakintensität aufgetragen. Die gestrichelten Linien geben die theoretischen
Intensitätsverhältnisse für Kristallite ohne eine Vorzugsorientierung an. Die Abweichungen
der Meßwerte von diesen theoretischen Werten sind für alle untersuchten Laserenergien
vernachlässigbar.