View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

8 Ergebnisse und Diskussion 61
300
- ...c:
.S;
W
.::i.
.3:
--
Q)
....
200
~
...c:
:CtS 100
N
o
20 40 60 80 100 120
28 (deg)
Abb.8.8:
XRD-Diffraktogramm einer Probe der Energieserie mit 415 nm Schichtdicke
(vgl. Abb. 8.6). Die Beschriftungen der Peaks kennzeichnen die Beugung an den
verschiedenen Netzebenen.
1.2 r------------------,
1 f---.------..... --.. -------------.. -
...
-32
..E
• hkl=111
0.8 f- • hkl=220
• hkl=311
0.6 f-._-.-_a. ___ • • a. __ -II_______________ •
.
0.4 f-
• •
--r-~~~---~---------------
E (mJ)
Abb. 8.9: Verhältnis der integrierten Peakintensitäten zur {11 lj-Peakintensität für die
Energieserie mit 415 nm Schichtdicke (vgl. Abb. 8.6).