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Principios de electrónica, 7ma Edición - Albero Malvino

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32 Capítulo 2<br />

Figura 2.5<br />

hueco.<br />

(a) (a) La energía térmica da lugar a la creación <strong>de</strong> un hueco y un electrón libre. (b) Recombinación <strong>de</strong> un electrón libre y un<br />

(a)<br />

(b)<br />

Ejemplo 2.3<br />

Si un cristal <strong>de</strong> silicio puro contiene 1 millón <strong>de</strong> electrones libres, ¿cuántos huecos contendrá? ¿Qué ocurre con la<br />

cantidad <strong>de</strong> electrones libre y huecos si la temperatura ambiente aumenta?<br />

SOLUCIÓN Fíjese en la Figura 2.5a. Cuando por efecto <strong>de</strong> la energía térmica se crea un electrón libre, automáticamente<br />

también se crea un hueco al mismo tiempo. Por tanto, un cristal <strong>de</strong> silicio puro siempre tiene el mismo<br />

número <strong>de</strong> huecos que <strong>de</strong> electrones libres, luego si tiene 1 millón <strong>de</strong> electrones libres, tendrá 1 millón <strong>de</strong> huecos.<br />

Una temperatura mayor aumenta las vibraciones en el nivel atómico, lo que significa que se crearán más electrones<br />

libres y huecos. No obstante, in<strong>de</strong>pendientemente <strong>de</strong> la temperatura, un cristal <strong>de</strong> silicio puro siempre tiene<br />

el mismo número <strong>de</strong> electrones libres que <strong>de</strong> huecos.<br />

2.4 Semiconductores intrínsecos<br />

Un semiconductor intrínseco es un semiconductor puro. Un cristal <strong>de</strong> silicio es un semiconductor intrínseco si<br />

cada átomo <strong>de</strong>l cristal es un átomo <strong>de</strong> silicio. A temperatura ambiente, un cristal <strong>de</strong> silicio actúa como un aislante<br />

porque sólo tiene unos pocos electrones libres y huecos producidos por el efecto <strong>de</strong> la energía térmica.<br />

Flujo <strong>de</strong> electrones libres<br />

La Figura 2.6 muestra parte <strong>de</strong> un cristal <strong>de</strong> silicio situado entre dos placas metálicas car gadas. Supongamos que<br />

la energía térmica ha dado lugar a la creación <strong>de</strong> un electrón libre y <strong>de</strong> un hueco. El electrón libre se encuentra en<br />

un orbital <strong>de</strong> mayor energía en el extremo <strong>de</strong>recho <strong>de</strong>l cristal. Puesto que la placa está cargada negativamente, los<br />

Figura 2.6<br />

Flujo <strong>de</strong> huecos a través <strong>de</strong> un semiconductor.<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

<br />

Hueco<br />

A<br />

C<br />

B<br />

ELECTRÓN LIBRE<br />

D F<br />

E

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