la prima rivista italiana sui circuiti stampati - B2B24 - Il Sole 24 Ore
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Wide Bandgap Technology<br />
La tecnologia wide bandgap si basa sull’utilizzo del carburo<br />
di silicio (SiC). <strong>Il</strong> SiC puro è incolore, <strong>la</strong> lucentezza dei cristalli,<br />
capaci di scomporre <strong>la</strong> luce nei colori dell’arcobaleno,<br />
è dovuta all’autopassivazione del materiale che si ricopre di<br />
un sottile strato di SiO2. Tra tutte le sue forme cristalline, l’alfa<br />
è <strong>la</strong> più comune (SiC-α), si forma a temperature superiori<br />
ai 2000 °C e ha un struttura cristallina esagonale. È inerte<br />
dal punto di vista chimico, ha un bassissimo coefficiente<br />
di di<strong>la</strong>tazione termica, ma possiede un’elevata conducibilità<br />
termica. In partico<strong>la</strong>re quest’ultima sua caratteristica, unitamente<br />
all’alta densità di corrente che è capace di sopportare,<br />
lo rendono attualmente un materiale molto interessante<br />
come semiconduttore, sicuramente più promettente del silicio<br />
per gli utilizzi nell’alta potenza, nell’alta frequenza e alle<br />
alte temperature (fino a 500 – 600 °C).<br />
L’attuale limite è dettato dal<strong>la</strong> qualità del materiale di partenza,<br />
i substrati da <strong>la</strong>vorare per ottenere il dispositivo finale.<br />
Gli attuali wafer di silicio arrivano a diametri superiori ai 12”<br />
(30,48 cm), sono di elevata purezza e ottima qualità cristallografica.<br />
La difettosità è ritenuta ormai insignificante.<br />
I wafer di SiC oggi disponibili hanno diametri attorno ai 4”<br />
(10 cm), ma in partico<strong>la</strong>re <strong>la</strong> presenza dei difetti (micropipe,<br />
stacking fault, dislocation) è ancora troppo elevata per ottenere<br />
dispositivi con il livello di affidabilità richiesto dall’elettronica<br />
di ultima generazione. Esiste inoltre il problema dei<br />
costi. Per il substrato di silicio l’incidenza sul dispositivo finale<br />
(componente) è inferiore al 5%, mentre nel caso del SiC<br />
è ancora attestata attorno al 50%.<br />
I substrati di carburo di silicio sono ottenuti mediante il processo<br />
di crescita epitassiale di tipo HTCVD (High Temperature<br />
Chemical Vapour Deposition). In pratica gli strati epitassiali di<br />
SiC sono ottenuti da vapori contenenti silicio e carbonio in<br />
reattori ad alta temperatura.<br />
È in atto una forte sperimentazione per arrivare a un utilizzo<br />
estensivo di questo materiale nel<strong>la</strong> costruzione di sensori<br />
e vari altri componenti elettronici; attualmente si producono<br />
solo i diodi schottky.<br />
La tecnologia di crescita epitassiale consente di accrescere<br />
strati di silicio monocristallino su di un substrato, anch’esso<br />
di silicio monocristallino che ne indirizza <strong>la</strong> crescita e ne determina<br />
le proprietà strutturali. È comunque possibile ottenere<br />
<strong>la</strong> deposizione di altri materiali metallici al fine di realizzare<br />
le connessioni tra i vari dispositivi di un chip. Lo spessore<br />
dello strato epitassiale può variare dal<strong>la</strong> frazione di un nanometro<br />
a centinaia di micron, con controllo dello spessore dei<br />
materiali dell’ordine del singolo strato atomico.<br />
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