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la prima rivista italiana sui circuiti stampati - B2B24 - Il Sole 24 Ore

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Wide Bandgap Technology<br />

La tecnologia wide bandgap si basa sull’utilizzo del carburo<br />

di silicio (SiC). <strong>Il</strong> SiC puro è incolore, <strong>la</strong> lucentezza dei cristalli,<br />

capaci di scomporre <strong>la</strong> luce nei colori dell’arcobaleno,<br />

è dovuta all’autopassivazione del materiale che si ricopre di<br />

un sottile strato di SiO2. Tra tutte le sue forme cristalline, l’alfa<br />

è <strong>la</strong> più comune (SiC-α), si forma a temperature superiori<br />

ai 2000 °C e ha un struttura cristallina esagonale. È inerte<br />

dal punto di vista chimico, ha un bassissimo coefficiente<br />

di di<strong>la</strong>tazione termica, ma possiede un’elevata conducibilità<br />

termica. In partico<strong>la</strong>re quest’ultima sua caratteristica, unitamente<br />

all’alta densità di corrente che è capace di sopportare,<br />

lo rendono attualmente un materiale molto interessante<br />

come semiconduttore, sicuramente più promettente del silicio<br />

per gli utilizzi nell’alta potenza, nell’alta frequenza e alle<br />

alte temperature (fino a 500 – 600 °C).<br />

L’attuale limite è dettato dal<strong>la</strong> qualità del materiale di partenza,<br />

i substrati da <strong>la</strong>vorare per ottenere il dispositivo finale.<br />

Gli attuali wafer di silicio arrivano a diametri superiori ai 12”<br />

(30,48 cm), sono di elevata purezza e ottima qualità cristallografica.<br />

La difettosità è ritenuta ormai insignificante.<br />

I wafer di SiC oggi disponibili hanno diametri attorno ai 4”<br />

(10 cm), ma in partico<strong>la</strong>re <strong>la</strong> presenza dei difetti (micropipe,<br />

stacking fault, dislocation) è ancora troppo elevata per ottenere<br />

dispositivi con il livello di affidabilità richiesto dall’elettronica<br />

di ultima generazione. Esiste inoltre il problema dei<br />

costi. Per il substrato di silicio l’incidenza sul dispositivo finale<br />

(componente) è inferiore al 5%, mentre nel caso del SiC<br />

è ancora attestata attorno al 50%.<br />

I substrati di carburo di silicio sono ottenuti mediante il processo<br />

di crescita epitassiale di tipo HTCVD (High Temperature<br />

Chemical Vapour Deposition). In pratica gli strati epitassiali di<br />

SiC sono ottenuti da vapori contenenti silicio e carbonio in<br />

reattori ad alta temperatura.<br />

È in atto una forte sperimentazione per arrivare a un utilizzo<br />

estensivo di questo materiale nel<strong>la</strong> costruzione di sensori<br />

e vari altri componenti elettronici; attualmente si producono<br />

solo i diodi schottky.<br />

La tecnologia di crescita epitassiale consente di accrescere<br />

strati di silicio monocristallino su di un substrato, anch’esso<br />

di silicio monocristallino che ne indirizza <strong>la</strong> crescita e ne determina<br />

le proprietà strutturali. È comunque possibile ottenere<br />

<strong>la</strong> deposizione di altri materiali metallici al fine di realizzare<br />

le connessioni tra i vari dispositivi di un chip. Lo spessore<br />

dello strato epitassiale può variare dal<strong>la</strong> frazione di un nanometro<br />

a centinaia di micron, con controllo dello spessore dei<br />

materiali dell’ordine del singolo strato atomico.<br />

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