IEKP-KA/2013-4 - Institut für Experimentelle Kernphysik - KIT
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34 6. Signalmessungen<br />
Äußere Einflüsse rufen auch ein gemeinsames Springen der Signalwerte aller Streifen (s)<br />
in einem Ereignis (i) hervor:<br />
CM i = 1 N<br />
N<br />
∑ (ADC s,i − P s ) (6.3)<br />
s=1<br />
Dieser Effekt wird Common-Mode (CM i ) genannt und muss ebenfalls herausgerechnet<br />
werden, um das Common-Mode korrigierte Rauschen zu erhalten:<br />
N s = √ 1 N<br />
N<br />
∑ (ADC s,i − P s − CM i ) 2 (6.4)<br />
i=1<br />
6.1.3. Signal und Cluster<br />
Die nach Abzug von Pedestal und Common Mode verbleibende ADC-Werte werden als<br />
Signale von Teilchendurchgängen interpretiert, wenn sie deutlich größer als der mittlere<br />
Rauschwert sind. Als Schwellwert wird üblicherweise ein Signal, welches fünfmal größer<br />
als der Rauschwert ist, <strong>für</strong> den Streifen mit dem größten Signal festgelegt. Benachbarte<br />
Steifen, deren Signal mindestens zweimal größer als das Rauschen ist, werden dem Teilchendurchgang<br />
ebenfalls zugeordnet. Bei einem Teilchendurchgang können somit ein<br />
einzelner Streifen oder mehrere nebeneinander liegende Streifen ein Signal auffangen.<br />
Zusammen genommen stellen die getroffenen Streifen den Cluster dar. Das summierte<br />
Signal aller Streifen eines Clusters wird mit ADC cl bezeichnet.<br />
6.1.4. Signal-zu-Rausch-Verhältnis<br />
Neben der Auflösung ist die Effizienz eines Spurdetektors eines seiner wichtigsten Eigenschaften.<br />
Für einen zuverlässigen Nachweis von durchgegangenen Teilchen ist daher ein<br />
möglichst hohes Signal verbunden mit einem möglichst niedrigen Rauschen notwendig.<br />
Ein Maß <strong>für</strong> die Nachweisfähigkeit ist demnach das Signal-zu-Rausch-Verhältnis.<br />
Das Signal-zu-Rausch-Verhältnis <strong>für</strong> jedes Ereignis (SNR i ) kann berechnet werden, indem<br />
das Signal aller dem Cluster zugeordneter Streifen summiert wird, und durch das<br />
summierte Rauschen dieser Streifen dividiert wird:<br />
SNR i = ADC cl<br />
N cl<br />
(6.5)<br />
6.1.5. Ursachen <strong>für</strong> Rauschen und das ENC-Konzept<br />
Quelle, soweit nicht anders angegeben: [Har08].<br />
Verschiedene Faktoren nehmen Einfluss auf das Signalrauschen. Zur Beschreibung dieser<br />
Effekte existiert das ENC 1 -Konzept. Zum Vergleich des Rauschens mit dem Signal,<br />
welches durch Teilchendurchgänge erzeugt wird, ist der Wert des ENC in Elektronen<br />
angeben. Der ENC ist als Quadratsumme definiert:<br />
√<br />
ENC = ENCC 2 + ENC2 I L<br />
+ ENCR 2 P<br />
+ ENCR 2 S<br />
(6.6)<br />
Die vier einzelnen Faktoren werden im Folgenden eingeführt.<br />
1 Abkürzung (engl.): Equivalent Noise Charge