28.12.2013 Aufrufe

IEKP-KA/2013-4 - Institut für Experimentelle Kernphysik - KIT

IEKP-KA/2013-4 - Institut für Experimentelle Kernphysik - KIT

IEKP-KA/2013-4 - Institut für Experimentelle Kernphysik - KIT

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

34 6. Signalmessungen<br />

Äußere Einflüsse rufen auch ein gemeinsames Springen der Signalwerte aller Streifen (s)<br />

in einem Ereignis (i) hervor:<br />

CM i = 1 N<br />

N<br />

∑ (ADC s,i − P s ) (6.3)<br />

s=1<br />

Dieser Effekt wird Common-Mode (CM i ) genannt und muss ebenfalls herausgerechnet<br />

werden, um das Common-Mode korrigierte Rauschen zu erhalten:<br />

N s = √ 1 N<br />

N<br />

∑ (ADC s,i − P s − CM i ) 2 (6.4)<br />

i=1<br />

6.1.3. Signal und Cluster<br />

Die nach Abzug von Pedestal und Common Mode verbleibende ADC-Werte werden als<br />

Signale von Teilchendurchgängen interpretiert, wenn sie deutlich größer als der mittlere<br />

Rauschwert sind. Als Schwellwert wird üblicherweise ein Signal, welches fünfmal größer<br />

als der Rauschwert ist, <strong>für</strong> den Streifen mit dem größten Signal festgelegt. Benachbarte<br />

Steifen, deren Signal mindestens zweimal größer als das Rauschen ist, werden dem Teilchendurchgang<br />

ebenfalls zugeordnet. Bei einem Teilchendurchgang können somit ein<br />

einzelner Streifen oder mehrere nebeneinander liegende Streifen ein Signal auffangen.<br />

Zusammen genommen stellen die getroffenen Streifen den Cluster dar. Das summierte<br />

Signal aller Streifen eines Clusters wird mit ADC cl bezeichnet.<br />

6.1.4. Signal-zu-Rausch-Verhältnis<br />

Neben der Auflösung ist die Effizienz eines Spurdetektors eines seiner wichtigsten Eigenschaften.<br />

Für einen zuverlässigen Nachweis von durchgegangenen Teilchen ist daher ein<br />

möglichst hohes Signal verbunden mit einem möglichst niedrigen Rauschen notwendig.<br />

Ein Maß <strong>für</strong> die Nachweisfähigkeit ist demnach das Signal-zu-Rausch-Verhältnis.<br />

Das Signal-zu-Rausch-Verhältnis <strong>für</strong> jedes Ereignis (SNR i ) kann berechnet werden, indem<br />

das Signal aller dem Cluster zugeordneter Streifen summiert wird, und durch das<br />

summierte Rauschen dieser Streifen dividiert wird:<br />

SNR i = ADC cl<br />

N cl<br />

(6.5)<br />

6.1.5. Ursachen <strong>für</strong> Rauschen und das ENC-Konzept<br />

Quelle, soweit nicht anders angegeben: [Har08].<br />

Verschiedene Faktoren nehmen Einfluss auf das Signalrauschen. Zur Beschreibung dieser<br />

Effekte existiert das ENC 1 -Konzept. Zum Vergleich des Rauschens mit dem Signal,<br />

welches durch Teilchendurchgänge erzeugt wird, ist der Wert des ENC in Elektronen<br />

angeben. Der ENC ist als Quadratsumme definiert:<br />

√<br />

ENC = ENCC 2 + ENC2 I L<br />

+ ENCR 2 P<br />

+ ENCR 2 S<br />

(6.6)<br />

Die vier einzelnen Faktoren werden im Folgenden eingeführt.<br />

1 Abkürzung (engl.): Equivalent Noise Charge

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!