Ausfallmechanismen, Ausfallmodelle und ...
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124 <strong>Ausfallmechanismen</strong> <strong>und</strong> Schadensbilder<br />
dauer. Auch bei 150 °C ergaben sich abhängig von der Belastungsrichtung<br />
deutliche Unterschiede in der Lebensdauer. Ein<br />
verändertes Schadensbild war jedoch bei erhöhter Umgebungstemperatur<br />
nicht zu beobachten. Kam es zum Ausfall der Verbindung,<br />
so geschah dies weiterhin durch einen Pinbruch.<br />
Unter den erprobten Belastungen war somit die Biegewechselfestigkeit<br />
des Tyco Actionpins entscheidend für die Lebensdauer der<br />
Verbindung. Das Schwingfestigkeitsverhalten von CuSn 6 folgt<br />
bei erhöhten Temperaturen dem Verhalten der Festigkeitskennwerte<br />
[Rad07, Sch97]. Dies erklärt die reduzierte Lebensdauer<br />
der Verbindung bei erhöhten Temperaturen.<br />
Eine signifikante Schädigung der Kontaktzone bei keiner mechanisch<br />
belasteten Probe nachgewiesen werden. Allerdings zeigten<br />
einige geöffnete Proben im Randbereich der Kontaktzone<br />
eine Oxidbildung (siehe 4.2.50). Wie bereits beschrieben, wurde<br />
der Übergangswiderstand nicht über eine 4-Punkt-Messung bestimmt.<br />
Somit enthielt dieser nicht nur den Kontaktwiderstand<br />
zwischen Pin <strong>und</strong> Hülse, sondern auch den Pinwiderstand. Die<br />
gemessene Widerstandserhöhung war somit auf zwei Effekte zurückzuführen.<br />
Einerseits führt eine Rissbildung aufgr<strong>und</strong> des<br />
reduzierten Pinquerschnitts zu einem Engewiderstand, andererseits<br />
verschlechtert sich der Kontaktwiderstand durch die<br />
beobachtete Oxidbildung.<br />
Zur Abschätzung der jeweiligen Anteile am Gesamtwiderstand,<br />
wurde die Zunahme des Engewiderstands durch eine Rissbildung<br />
rechnerisch ermittelt <strong>und</strong> der gemessenen Widerstandserhöhung<br />
gegenübergestellt. Der Engewiderstand einer rechteckigen Kontaktfläche<br />
ergibt sich nach [Sla99] zu:<br />
R E (t) =0, 868 ·<br />
ρ<br />
√<br />
A(t)<br />
,<br />
wobei ρ die elektrische Leitfähigkeit des Kontaktmaterials <strong>und</strong>