Téléchargement - Ecole Française du Béton
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Partie II. Programme expérimental et développement métrologique<br />
Récepteur<br />
Page 78<br />
Eprouvette d’essai<br />
16 cm<br />
mode propre de résonance<br />
en flexion<br />
mode propre de résonance<br />
en torsion<br />
Figure III-6 : Excitation des éprouvettes en utilisant le Grindosonic ® .<br />
Un détecteur piézo-électrique (20 Hz – 100 kHz), appelé récepteur, en contact avec<br />
l’éprouvette, est utilisé pour capter la vibration mécanique et la transformer en signal<br />
électrique (Figure III-6). Ce signal est amplifié et analysé par un microprocesseur qui<br />
enregistre les signaux, sélectionne la composante fondamentale <strong>du</strong> spectre et affiche le<br />
résultat de la mesure. Selon deux positions <strong>du</strong> détecteur par rapport à l’impact, les deux<br />
fréquences relatives au mode de résonance en torsion et en flexion de l’éprouvette sont<br />
mesurées. Ces fréquences sont de l’ordre de quelques kHz pour une éprouvette de mortier<br />
4 x 4 x 16 cm 3 . A partir de ces données, un programme de calcul par éléments finis baptisé<br />
“ Emod ” associé au Grindosonic ® permet le calcul de la célérité des ondes longitudinales et<br />
transversales et par conséquent, <strong>du</strong> mo<strong>du</strong>le dynamique élastique Edyn, <strong>du</strong> coefficient de<br />
Poisson et <strong>du</strong> mo<strong>du</strong>le dynamique de cisaillement Gdyn.<br />
III.2.5. Caractérisation microscopique<br />
La microstructure des échantillons et la zone d’interface « pâte de ciment/granulat » ont été<br />
étudiées par microscopie électronique à balayage (MEB) en mode secondaire (SE) et par<br />
microanalyse électronique EDS (Spectroscopie en Energie). Dans ce qui suit, on présente ces<br />
deux méthodes d’analyse.<br />
Emetteur<br />
4 cm<br />
4 cm<br />
Eprouvette d’essai<br />
Recepteur<br />
16 cm<br />
Emetteur<br />
4 cm<br />
4 cm<br />
III.2.5.1. Observation au MEB en électrons secondaires<br />
(secondary electron ou SE)<br />
Les électrons secondaires (d'environ quelques dizaines d'eV) émis en chaque point sous<br />
l'impact <strong>du</strong> faisceau (d'un diamètre de l'ordre de quelques nm) sont collectés, grâce à un<br />
champ électrique positif de l'ordre de 500 V, sur un scintillateur. Les photons pro<strong>du</strong>its sont<br />
transmis à l'aide d'une fibre optique jusqu'à la couche sensible d'un photomultiplicateur situé à
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