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View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

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Herstellung eines nanoimprint Molds für PALO Strukturen 65<br />

Strukturen durch NIL dienen sollen. Ein neues Layout wurde mit Hilfe der Software Cle-<br />

Win4 (Phoenix Software) erstellt (vgl. Anhang Abbildung B9). Es beinhaltet Felder paralleler<br />

Leiterbahnen mit Breiten von 50 nm, 100 nm, 200 nm und 300 nm (halfpitch) und deren<br />

Zuleitungen. Die Felder bestehen aus einer einzelnen oder zwei, vier oder acht parallelen<br />

Leiterbahnen (im Folgenden als 1, 2, 4 oder 8-Bit bezeichnet). Die Zuleitungen verbreitern<br />

sich bis auf 1 μm und gehen dann in quadratische Kontaktächen von 10 x 10 μm 2 über<br />

(sog. Bondpads). Der Übergang zu den Kontaktächen ist ieÿend. Dies ist relevant, um<br />

das Layout auch für andere Drucktechniken verwendbar zu machen (insbesondere nTP), da<br />

90 ◦ Winkel dort anfällig für Defekte beim Transfer sind. Der gröÿte Teil der Zuleitungen<br />

wird nicht über NIL erstellt, sondern in einem separaten PL Prozess hinzugefügt. Damit<br />

werden Lackuss-Probleme bei der NIL vermindert. Gröÿere Strukturen brauchen mehr<br />

Lackvolumen um komplett gefüllt zu werden. Da jedoch zur Herstellung von Nanostrukturen<br />

eine dünne Lackschicht benötigt wird, lassen sich groÿe und kleine Strukturen auf<br />

einem Mold nur schwer vereinen. Das Layout für die PL beinhaltet auÿerdem noch Zuleitungen<br />

für die Top-Eletroden. Dies ist notwendig, da der PALO Prozess eine Verkapselung<br />

der Top-Elektrode vorsieht und diese ansonsten nicht kontaktierbar wäre.<br />

Ein weiterer Punkt ist die Restschicht. Diese wird ebenfalls durch die Strukturgröÿe beeinusst.<br />

Um eine homogene Restschicht zu erreichen, wurde der Abstand zwischen den<br />

einzelnen Feldern möglichst groÿ gewählt (hier ist der Abstand 1 cm, als Minimum wurde<br />

200 μm ermittelt). Die Separation des Groÿteils der Zuleitungen in einen PL-Prozess trägt<br />

ebenfalls positiv dazu bei.<br />

Das NAL-Layout beinhaltet verschiedene Leiterbahnbreiten auf einem Mold. Es war nicht<br />

möglich, den Ätzprozess bei der Herstellung der Bottom-Elektroden für alle Breiten gleichzeitig<br />

zu optimieren. Daher wurde beim neuen Layout für jede Breite eine eigene Variante<br />

erstellt, sodass zu jeder Breite ein eigener Mold erstellt werden kann.<br />

Aufgrund des Proximity-Eekts muss die Elektronendosis bei EBL an jedes Layout an-<br />

340 380 450 530 570<br />

200nm<br />

Abbildung 5.2: Exemplarische REM Aufnahmen zum Dosistest der 50 nm Strukturen. Die<br />

Bilder zeigen Leiterbahnstrukturen in PMMA nach der Entwicklung. Die<br />

Dosis zum Schreiben mit EBL wurde in einem Bereich von 340 bis 570<br />

μC/cm 2 variiert. Während die Strukturen bei kleinen Dosen unterbelichtet<br />

und somit zu schmal sind, sind die Stege der überbelichteten Struktren fast<br />

nicht mehr vorhanden. Die optimale Dosis wurde bei 450μC/cm 2 gefunden.

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