View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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Herstellung eines nanoimprint Molds für PALO Strukturen 65<br />
Strukturen durch NIL dienen sollen. Ein neues Layout wurde mit Hilfe der Software Cle-<br />
Win4 (Phoenix Software) erstellt (vgl. Anhang Abbildung B9). Es beinhaltet Felder paralleler<br />
Leiterbahnen mit Breiten von 50 nm, 100 nm, 200 nm und 300 nm (halfpitch) und deren<br />
Zuleitungen. Die Felder bestehen aus einer einzelnen oder zwei, vier oder acht parallelen<br />
Leiterbahnen (im Folgenden als 1, 2, 4 oder 8-Bit bezeichnet). Die Zuleitungen verbreitern<br />
sich bis auf 1 μm und gehen dann in quadratische Kontaktächen von 10 x 10 μm 2 über<br />
(sog. Bondpads). Der Übergang zu den Kontaktächen ist ieÿend. Dies ist relevant, um<br />
das Layout auch für andere Drucktechniken verwendbar zu machen (insbesondere nTP), da<br />
90 ◦ Winkel dort anfällig für Defekte beim Transfer sind. Der gröÿte Teil der Zuleitungen<br />
wird nicht über NIL erstellt, sondern in einem separaten PL Prozess hinzugefügt. Damit<br />
werden Lackuss-Probleme bei der NIL vermindert. Gröÿere Strukturen brauchen mehr<br />
Lackvolumen um komplett gefüllt zu werden. Da jedoch zur Herstellung von Nanostrukturen<br />
eine dünne Lackschicht benötigt wird, lassen sich groÿe und kleine Strukturen auf<br />
einem Mold nur schwer vereinen. Das Layout für die PL beinhaltet auÿerdem noch Zuleitungen<br />
für die Top-Eletroden. Dies ist notwendig, da der PALO Prozess eine Verkapselung<br />
der Top-Elektrode vorsieht und diese ansonsten nicht kontaktierbar wäre.<br />
Ein weiterer Punkt ist die Restschicht. Diese wird ebenfalls durch die Strukturgröÿe beeinusst.<br />
Um eine homogene Restschicht zu erreichen, wurde der Abstand zwischen den<br />
einzelnen Feldern möglichst groÿ gewählt (hier ist der Abstand 1 cm, als Minimum wurde<br />
200 μm ermittelt). Die Separation des Groÿteils der Zuleitungen in einen PL-Prozess trägt<br />
ebenfalls positiv dazu bei.<br />
Das NAL-Layout beinhaltet verschiedene Leiterbahnbreiten auf einem Mold. Es war nicht<br />
möglich, den Ätzprozess bei der Herstellung der Bottom-Elektroden für alle Breiten gleichzeitig<br />
zu optimieren. Daher wurde beim neuen Layout für jede Breite eine eigene Variante<br />
erstellt, sodass zu jeder Breite ein eigener Mold erstellt werden kann.<br />
Aufgrund des Proximity-Eekts muss die Elektronendosis bei EBL an jedes Layout an-<br />
340 380 450 530 570<br />
200nm<br />
Abbildung 5.2: Exemplarische REM Aufnahmen zum Dosistest der 50 nm Strukturen. Die<br />
Bilder zeigen Leiterbahnstrukturen in PMMA nach der Entwicklung. Die<br />
Dosis zum Schreiben mit EBL wurde in einem Bereich von 340 bis 570<br />
μC/cm 2 variiert. Während die Strukturen bei kleinen Dosen unterbelichtet<br />
und somit zu schmal sind, sind die Stege der überbelichteten Struktren fast<br />
nicht mehr vorhanden. Die optimale Dosis wurde bei 450μC/cm 2 gefunden.