View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

Elektrische Charakterisierung von PEDOT:PSS Dünnschichten 81
Clevios P
Clevios PH
Clevios PH1000
Clevios FE
Abbildung 6.4: Widerstände zwischen verschiedenen Leiterbahnen von mit PEDOT:PSS
beschichteten Bottom-Elektroden in Abhängigkeit vom Abstand der Leiterbahnen.
schen den Leiterbahnen. In Abbildung 6.5 ist eine REM Aufnahme eines solchen Filaments
gezeigt. Die Abbildung zeigt vier 100 nm Bottom-Elektroden, welche mit 77 nm Clevios
P beschichtet wurden. Bei Anlegen einer Potentialdierenz von 5 V zwischen den unteren
beiden Leiterbahnen wurde ein Filament gebildet. In der Kennlinie machte sich dies durch
einen sprunghaften Anstieg des Stroms bemerkbar. Dieser Eekt war nicht reversibel. Daher
wurde auch kein resistives Schalten, was durch Filamentbildung hervorgerufen werden
kann [150], beobachtet [144, 151]. Bei unbeschichteten Elektroden fand keine Filamentbildung
statt.
PEDOT:PSS wurde bereits als Kontaktvermittler zwischen molekularen Monolagen und
Metallelektroden verwendet [33, 131]. Daher wurde der Einuss einer Modizierung der
Bottom-Elektroden mit einer SAM auf den Kontaktwiderstand zu PEDOT:PSS untersucht.
Auf Bottom-Elektroden wurden nach dem in Abschnitt 4.1.1 verwendeten Protokoll
SAMs der Moleküle 1-Octadecanthiol (ODT) und Amino-hexaethylenglykol-Undecanthiol
(A-PEG) abgeschieden. Anschlieÿend wurden die Leiterbahnen mit PEDOT:PSS (Clevios
P) beschichtet und der Kontaktwiderstand bestimmt. Durch die ODTSAMs wurde eine
deutliche Erhöhung des Kontaktwiderstands auf 17 kΩ gemessen. Die A-PEG SAM erhöhte
den Widerstand auf 6 kΩ. In beiden Fällen wurde eine lineare Kennlinie zwischen verschiedenen
Leiterbahnen gefunden. Die Erhöhung des Kontaktwiderstands wird daher auf eine