3-2016

EMV
EMC Compliance Tests und
Applications auf der EMV-Messe
HF-LEISTUNGSVERSTÄRKER
komplette Verstärker-Rack-Lösungen
SATCOM-Verstärker
TWTA - Verstärker
SSPA - Verstärker
Die Firmen dataTec und Keysight Technology
sind in diesem Jahr gemeinsam
auf einem Stand der EMV-Messe vom
23. bis 25.2.2016 in Düsseldorf zu finden,
nämlich in Halle CCD am Stand 111. Drei
Schwerpunkte bilden den gemeinsamen
Messeauftritt, bei dem sich Interessenten
und Besucher die Messmöglichkeiten zu
folgenden Themen informieren können:
• EMC Compliance Test mit den
Spektrumanalysatoren der MXE-
Serie mit einer Bandbreite von
3 Hz bis 3,6, 8,4, 26,5 oder 44 GHz
Zum schnellen Erfassen von Störstrahlung
kann die Messaufnahme im Zeitbereich
erfolgen, um durch eine FFT die
kritischen Störspitzen schneller erfassen
zu können, um sie dann gezielt im Frequenzbereich
nochmals genauer zu untersuchen.
Mit den Geräten lassen sich nach
den Normen CISPR 16-1-1:2010 und
nach MIL-STD-461F EMI Compliance
Tests durchführen.
• EMC Precompliance Test mit den
Spektrumanalysatoren der EXA-
Serie mit Bandbreiten von 10 Hz
bis 44 GHz
Die EXA-Analysatoren bilden eine
Geräteserie der Economy-Klasse, mit
der sehr schnell eine Aussage über das
Störstrahlspektrum der untersuchten
Frequenzbereiche vorgenommen werden
kann.
• EMC-Applikation mit Oszilloskopen
der S-Serie
Mit Bandbreiten bis zu 8 GHz und einer
Abtastrate von 20 GSa/s warten diese
Scopes auf. Mit diesem Oszilloskop
lassen sich Abstrahlungen sehr schnell
aufnehmen und über eine FFT wiedergeben,
sodass der Ingenieur sehr schnell
beurteilen kann, ob er mit seinem Design
möglicherweise an die EMC-Toleranzgrenzen
kommt. Die Firma dataTec wird
darüber hinaus auch den Spektrumanalysator
N9915A aus der bekannten Field-
Fox-Serie zeigen, ein tragbares Gerät
mit Laboreigenschaften. Von EMScan
wird das Nahfeld-Scanner-Tablet EHX-
83 in der Anwendung gezeigt. Mit diesem
Scanner lassen sich elektronische
Boards nach Abstrahlleistungen in Echtzeit
scannen und bewerten. Der Ingenieur
ist in der Lage die Auswirkung von
kleinen Änderungen, z.B. hervorgerufen
durch das Anbringen eines Blockkondensators,
in Echtzeit zu beobachten.
Damit ist es möglich, in einem sehr frühen
Entwicklungsstadium die Effizienz
von Entstörmaßnahmen in der Schaltung
zu verifizieren.
Langer-Nahfeldsonden
Ebenso gehört zur Ausrüstung für EMC-
Tests Langer-Nahfeldsonden, die es
ermöglichen, sehr einfach HF-undichte
Stellen an Gehäusen und elektronischen
Schaltungen zu entdecken; dazu gehören
auch Langer-Vorverstärker.
Da in modernen Schaltungen/Geräten
Störungen u.a. von der Spannungsversorgung
und den Schaltnetzteilen ausgehen,
zeigt dataTec auch einen Integra-Power-Analyzer,
mit dem sehr gut
die Einschalt- und Ausschaltcharakteristik
als auch das Einschwingverhalten
bei schnellen Lastwechseln bzw. -änderungen
auf die Versorgungsspannungen
untersucht werden können.
■ dataTec GmbH
www.datatec.de
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