Epitaktische Eisenschichten auf Ag(001) - AG Wollschläger ...

Ergebnis des Fits:
C 0, 00386 nm
Hz
5.3 Schichtdickenbestimmung aus Augerdaten
Lage-für-Lage-Wachstum statistisch verteiltes Lagewachstum
0, 00418 nm
Hz
Schichtdicke D bei f = 650Hz 2,509nm 2,717nm
Abweichung 7,66 %
Tabelle 2: Ergebnisse der Regression des Konzentrationsverhältnisses
Wir erhalten mit den Fitparametern eine Schichtdicke D, die sich im Bereich 2, 509nm
(Lage-für-Lage) < Dreal < 2, 717nm (statistisch) bewegt (Bedeckungsgrad: 8,74ML < θ <
9,47ML). Dies entspricht einer Abweichung zwischen diesen beiden Modellen von ungefähr
8%. In der Realität liegt die tatsächliche Schichtdicke zwischen diesen beiden ermittelten
Werten, wobei die Tendenz wahrscheinlich zu einem statistisch verteiltem, anstatt zu einem
geordnetem Lage-für-Lage-Wachstum geht. Dieses Phänomen wurde bereits durch
STM-Aufnahmen von D. E. Bürgler [12] beobachtet, der sowohl bei Raumtemperatur
als auch durch Nachtempern eine würfelförmige und clusterbildende Struktur feststellen
konnte. Weitere STM-Untersuchungen von I. Dézsi [13] zeigten eine Korn- bzw. Clustergröße
von 0,75nm bis 1,38nm bei einem Bedeckungsgrad von 2ML bis 6ML, was für ein
statistisch verteiltes Wachstum bei uns spricht.
Die ermittelten Konstanten C für den linearen Zusammenhang zwischen Aufdampfmenge
[in Hz] und tatsächlicher Schichtdicke d sind hier beschränkt auf die experimentelle Anordnung,
insbesondere Verdampfer- und Probenposition. Da die Aufdampfrate pro Fläche
bzw. Bedeckungsrate mit 1
r2 (r = Abstand zwischen Probe und Verdampfer) abnimmt,
muss auch C bei variiertem Proben-Verdampfer-Abstand neu untersucht werden.
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