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Dentin Komposit - OPUS - Universität Würzburg

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2 Material und Methoden 38<br />

angelegte Wert lag zwischen 1 – 2 mN. Er zeigt das Kraftmaximum an, mit der die<br />

Berkovich-Diamantspitze letztendlich in das Probenmaterial gedrückt wird.<br />

2. Displacement<br />

Es handelt sich hierbei um die Auslenkung der mittleren Kondensatorplatte in z-<br />

Richtung, welche über die Registrierung der Spannung quantifiziert wird. Die Einheit<br />

ist [nm]. Dieser Wert zeigt die Eindringtiefe des Nanoindenters in das Probenmaterial<br />

an.<br />

Nachdem eine geeignete Stelle zum Indentieren gefunden ist, wird in den Indentmodus<br />

umgeschaltet. Hierzu muss die Scan Size auf 0 nm eingestellt sein. Nun kann man über<br />

den x-/y-Offset einen genau definierten Punkt bestimmen, an dem das<br />

Eindruckexperiment durchgeführt werden soll.<br />

Mittels eines 80 x 80 �m Übersichtsscans wurde ein bestimmtes Areal auf der Probe<br />

festgelegt, in dem indentiert werden sollte. Über einen weiteren 40 x 40 �m Scan in<br />

diesem Bereich wurde der genaue Punkt am Interfacebereich zwischen <strong>Dentin</strong> und<br />

Adhäsiv festgelegt, an dem die jeweiligen Versuchsreihen beginnen sollten. Von<br />

diesem Punkt aus wurden sowohl in die Richtung des <strong>Dentin</strong>s als auch in die Richtung<br />

des Befestigungskomposites jeweils 16 Indents im Abstand von 1 �m gemacht. Um<br />

einen ausreichenden Abstand zwischen den Messpunkten einzuhalten, wurden die<br />

Messungen in zwei Reihen durchgeführt. In jeder Reihe hatten die benachbarten<br />

Messpunkte einen Abstand von 2 μm. Die zwei Reihen hatten voneinander ebenfalls<br />

einen Abstand von 2 μm. In den zwei Reihen waren die Messpunkte um jeweils 1 μm<br />

gegeneinander versetzt. Die Abbildung 7 veranschaulicht die Lage zweier Indentreihen<br />

zueinander und zur Grenzschicht zwischen <strong>Dentin</strong> und Befestigungskomposit.

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