TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 5. | Recherche du meilleur nud a tester |
c^one de fanout et les estimations de fautes). Nous avons donc besoin d'au moins une
information supplementaire pour les dierencier. A cet eet, nous utilisons la notion
de profondeur de sequentialite comme parametre de distinction entre ces candidats.
Nous considerons que les elements dont la profondeur de sequentialite correspond au
nombre de coups d'horloges eectues au cours du test sont plus a m^eme de contenir
la ou les fautes, et que par consequent ils doivent ^etre sondes en premiers.
Nud Entropie Degre Fonction Prof Seq Classement
a tester moyenne D'inuence de Co^ut G8 G18 Obtenu
P0 0.269 6.579 0.260 0 0 second
P1 0.269 6.579 0.260 0 1 second
P2 0.573 2.773 0.566 - 1 cinquieme
P3 0.269 2.995 0.315 0 0 troisieme
P5 0.269 6.579 0.260 0 1 second
P6 0.370 6.499 0.342 - 1 quatrieme
P7 0.269 6.579 0.260 0 0 second
P8 0.269 6.579 0.260 0 0 second
P9 0.269 6.579 0.260 1 1 premier
P10 0.269 6.579 0.260 0 0 second
P11 0.573 2.773 0.566 - 1 cinquieme
P12 0.573 2.773 0.566 - 2 cinquieme
Tableau 5.5: Recherche du meilleur point a tester pour le s27 modie
5.5 Conclusion
Vu leniveau de complexite atteint par les systemes VLSI actuels, les methodes de
diagnostic reposant uniquement sur des mesures eectuees sur les entrees/sorties primaires
ne peuvent plus permettre une localisation precise du site de la ou des fautes.
Souvent des mesures supplementaires sont necessaires, que ce soit par l'intermediaire
d'equipements speciaux (microscope electronique, sondes mecaniques, etc) ou par
l'intermediaire des dispositifs de conception en vue d'une meilleure testabilite (notamment
le Scan Path pour les circuits et le Boundary Scan pour les cartes ou les
MCMs).
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