TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

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Chapitre 1. | L'approche "Boundary Scan" | TMS = 1 Test_logic_reset Controle des registres de donnees Controle du registre instruction TMS = 0 TMS = 0 Run_test/Idle TMS = 1 TMS = 1 Select_DR_scan Select_IR_scan TMS = 1 TMS = 0 TMS = 0 Capture_DR TMS = 1 TMS = 1 Capture_IR TMS = 0 TMS = 0 TMS = 0 Shift_DR Shift_IR TMS = 0 TMS = 1 TMS = 1 TMS = 1 Exit1_DR Exit1_IR TMS = 1 TMS = 0 TMS = 0 TMS = 0 TMS = 0 Pause_DR Pause_IR TMS = 1 TMS = 1 Exit2_DR TMS = 0 TMS = 0 Exit2_IR TMS = 1 TMS = 1 Update_DR Update_IR TMS = 1 TMS = 0 TMS = 1 TMS = 0 Figure 1.7: Diagramme d'etat du contrôleur TAP Ensuite, cet etat sera decalevers TDO en même temps qu'arrivera la nouvelle instruction par TDI. Chaque instruction specie les operations a realiser ainsi que le registre de donnees selectionne entre les broches TDI et TDO. Trois instructions sont rendues obligatoires par le standard : BYPASS, EXTEST et SAMPLE/PRELOAD alors que les instructions INTEST et RUNBIST sont uniquement recommandees. L'instruction SAMPLE permet d'echantillonner les donnees presentes sur les bornes d'entrees/sorties de la carte. Elle est utilisee lors d'un test fonctionnel. PRELOAD sert a charger des valeurs dans le registre de donnees. Elle est utilisee pour initialiser la carte dans un etat sûr (pour eviter les dommages eventuels relatifs a des conits de bus) avant une operation de test. Il est a noter que ces deux instructions n'aectent pas le mode de fonctionnement normal de la carte. L'instruction EXTEST est utilisee pour le test de la circuiterie et des connexions entre les circuits BS. {13 {
Chapitre 1. | L'approche "Boundary Scan" | L'instruction INTEST est consacree au test interne des circuits. Elle consiste a appliquer les vecteurs de test sur les cellules BS d'entree du circuit et a recueillir les reponses sur ses cellules BS de sortie. 1.2.4.2 Les registres de donnees Ils doivent être au minimum au nombre de deux : , le registre de BYPASS qui sert a court-circuiter le circuit de facon a l'isoler du chemin de balayage de la carte. Ceci permet de reduire le temps de test en permettant d'acceder directement a un circuit donne de la carte. Ce registre est compose d'une seule bascule (gure 1.8). Elle relie, dans le même circuit, TDI a TDO lors de l'instruction BYPASS. Circuit sous test registre de "bypass" registre de "bypass" registre de "bypass" actif inactif actif TDI TDO Figure 1.8: Utilisation du registre de BYPASS , le registre de Boundary Scan, constitue par les cellules Boundary Scan interconnectees en registre a decalage (gure 1.1). D'autres registres peuvent être connectes en option par l'utilisateur entre les ports TDI et TDO. On citera pour l'exemple le registre d'identication qui comportera entre autres, l'identite du fabricant, la version du circuit, etc. L'instruction IDCODE sera associee a ce registre. La gure 1.9 presente un exemple de carte BS avec les chemins BS au niveau circuit et au niveau carte. {14 {
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