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TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

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Chapitre 7. | Experimentations et resultats |<br />

ATPG produit des vecteurs de test sous forme de sequence unique, ordonnee, dont<br />

la decomposition en vecteurs independants (necessaire pour l'application de notre<br />

methodologie) s'avere fastidieuse, et engendre une augmentation importante (a cause<br />

des repetitions) du nombre de vecteurs de test. Par contre, les vecteurs generes par<br />

S<strong>ET</strong>A sepresentent sous forme de sequences independantes, commencantchacune par<br />

un signal de remise,a,zero, ce qui convient parfaitement a notre application. Par<br />

consequent, en ce qui concerne la phase de generation des sequences de test BS, on<br />

utilisera en priorite les vecteurs generes par S<strong>ET</strong>A. Pour la phase de diagnostic, les<br />

deux types de vecteurs (S<strong>ET</strong>A, Sunrise) sont utilises.<br />

7.2 Resultats du module de test par ordonnancement<br />

Pour tester ce module (chapitre 2, paragraphe 2.3.1), nous avons realise des conglomerats<br />

a l'aide de circuits mis en cascade. Le tableau 7.3 montre la conguration<br />

utilisee et les caracteristiques des systemes crees. Pour chaque carte, on presente le<br />

nombre de connexions communes (#Conn.), le nombre d'entrees primaires (#EP) et<br />

de sorties primaires (#SP).<br />

Systeme en Cascade Module Amont Module Aval<br />

Nom #Conn. #EP #SP Nom #Portes #Vect. Nom #Portes #Vect.<br />

C0 2 8 2 c17 6 6 c17 6 6<br />

C1 3 190 64 c432nr 157 39 c2670nr 961 43<br />

C2 3 190 64 c432nr 157 39 c2670nr 961 43<br />

C3 3 190 64 c432nr 157 39 c2670nr 961 43<br />

C4 3 62 25 c880 383 28 c17 6 6<br />

C5 2 63 26 c17 6 6 c880 383 28<br />

C6 2 94 31 c880 383 28 c432nr 157 39<br />

C7 3 93 30 c880 383 28 c432nr 157 39<br />

C8 4 189 63 c432nr 157 39 c2670nr 961 43<br />

C9 3 93 30 c432nr 157 39 c880 383 28<br />

Tableau 7.3: Conguration des systemes traites: cartes C0 a C9.<br />

Les cartes C1, C2 et C3 sont composees des m^emes circuits, mais congurees de<br />

manieres dierentes (nuds d'interconnexion dierents). Le tableau 7.4 presente les<br />

taux de couverture obtenus avec TANDEM ainsi que ceux obtenus avec HI<strong>TEST</strong> dans<br />

{ 113 {

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