TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA
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Chapitre 1. | L'approche "Boundary Scan" |<br />
L'instruction IN<strong>TEST</strong> est consacree au test interne des circuits.<br />
Elle consiste a<br />
appliquer les vecteurs de test sur les cellules BS d'entree du circuit et a recueillir les<br />
reponses sur ses cellules BS de sortie.<br />
1.2.4.2 Les registres de donnees<br />
Ils doivent ^etre au minimum au nombre de deux :<br />
, le registre de BYPASS qui sert a court-circuiter le circuit de facon a l'isoler du<br />
chemin de balayage de la carte. Ceci permet de reduire le temps de test en permettant<br />
d'acceder directement a un circuit donne de la carte.<br />
Ce registre est compose d'une seule bascule (gure 1.8).<br />
Elle relie, dans le m^eme<br />
circuit, TDI a TDO lors de l'instruction BYPASS.<br />
Circuit sous test<br />
registre de<br />
"bypass"<br />
registre de<br />
"bypass"<br />
registre de<br />
"bypass"<br />
actif<br />
inactif<br />
actif<br />
TDI<br />
TDO<br />
Figure 1.8: Utilisation du registre de BYPASS<br />
, le registre de Boundary Scan, constitue par les cellules Boundary Scan interconnectees<br />
en registre a decalage (gure 1.1).<br />
D'autres registres peuvent ^etre connectes en option par l'utilisateur entre les ports<br />
TDI et TDO. On citera pour l'exemple le registre d'identication qui comportera<br />
entre autres, l'identite du fabricant, la version du circuit, etc. L'instruction IDCODE<br />
sera associee a ce registre.<br />
La gure 1.9 presente un exemple de carte BS avec les chemins BS au niveau circuit<br />
et au niveau carte.<br />
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