22.04.2014 Views

TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Chapitre 2. | Methodologie pour le test des cartes heterogenes |<br />

2.4 Ordonnancement pour un ensemble de conglomerats<br />

Cette etape a pour but de trouver une sequence minimale permettant derealiser le<br />

test en parallele de tous les conglomerats composant la carte pour les court,circuits<br />

d'interaction. Si les ATPGs actuels permettent souvent d'obtenir des taux de couverture<br />

appreciables pour les fautes de collage, il n'en n'est pas de m^eme pour les<br />

court,circuits ou les circuits,ouverts. Dans ce cas, on est souvent amene a recourir<br />

a des simulations de fautes pour atteindre de bons taux de couverture. Neanmoins<br />

cette solution reste envisageable seulement pour des circuits de faible complexite.<br />

Dans notre cas, la mise au point de ces vecteurs de test est obtenue de la maniere<br />

suivante : les dierentes sequences de test obtenues pour chaque conglomerat lors de<br />

la premiere etape sont regroupees et ordonnees de maniere a mettre en evidence ces<br />

fautes. Cet ordonnancement est base sur l'ordre d'association des dierentes sequences<br />

entre elles, ainsi que sur la possibilite derepeter au besoin certaines sequences a<br />

l'interieur de la sequence globale. Neanmoins, cet ordonnancement doit ^etre realise<br />

avec le souci de produire une sequence nale de longueur egale a celle de la plus<br />

longue des sequences de l'ensemble des conglomerats. Nous avons toutefois remarque<br />

au cours de nos experimentations, que cette contrainte (non restrictive, rappelons le)<br />

est souvent satisfaite dans le cas de conglomerats combinatoires. Elle l'est moins dans<br />

le cas ou ils sont sequentiels. Ceci peut s'expliquer par le fait que souvent, le taux de<br />

couverture de fautes par vecteur de test pour les circuits combinatoires est superieur<br />

a celui des circuits sequentiels. Ceci entra^ne donc la necessite de dupliquer davantage<br />

de sequences dans le cas sequentiel.<br />

D'une maniere generale pour detecter une faute dans un circuit, il faut pouvoir<br />

activer cette faute (condition de contr^olabilite) et la propager au moins vers une des<br />

sorties primaires du circuit (condition d'observabilite). Dans l'exemple de la gure 2.7,<br />

le vecteur de test doit ^etre choisi de maniere a ce que les stimuli appliques aux lignes<br />

I1, I2, I3 et I4 donnent des valeurs opposees sur les nuds n1 et n2, tandis que la<br />

valeur appliquee a la ligne I5 doit permettre la propagation sur la sortie S.<br />

Pour cet exemple, le vecteur f00000g permet de detecter un "and-short" entre n1<br />

{35 {

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!