TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA
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Chapitre 4. | Approches en vue du Diagnostic |<br />
, Base de Connaissance Structurelle (BCS). Cette base contient toutes les informations<br />
concernant la description structurelle du circuit sous test : liste des blocs, des<br />
interfaces bloc et des connexions.<br />
, La Base de Connaissance Fonctionnelle (BCF). Celle ci contient des informations<br />
additionnelles telles que les c^ones de couverture sur interfaces bloc.<br />
- Une Base de Connaissance Comportementale (BCC) dans laquelle on recolte toutes<br />
les donnees disponibles sur le test en cours. Ces donnees concernent les interfaces bloc<br />
et les hypotheses formulees. La gure 4.3 montre les bases de connaissances relatives<br />
au circuit de la gure 4.2.<br />
Base de Connaissances Comportementale<br />
instbi(IB0_1,unknown,_,_,out).<br />
instbi(IB0_2,unknown,_,_,out).<br />
instbi(IB0_3,unknown,_,_,out).<br />
instbi(IB0_4,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND1_1,unknown,_,_,out).<br />
instbi(NAND1_2,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND1_3,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND2_1,unknown,_,_,out).<br />
instbi(NAND2_2,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND2_3,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND3_1,unknown,_,_,out).<br />
instbi(NAND3_2,unknown,_,_,in).<br />
instbi(NAND3_3,unknown,_,_,in).<br />
Base de Connaissances Fonctionnelle<br />
coverage(NAND1_1,[NAND1_2,NAND1_3]).<br />
coverage(NAND2_1,[NAND2_2,NAND2_3]).<br />
coverage(NAND3_1,[NAND3_2,NAND3_3]).<br />
Base de connaissances Structurelle<br />
block(blockext,[IB0_1,IB0_2,IB0_3,IB0_4]).<br />
blockint(IB0_1,out,_,_).<br />
blockint(IB0_2,out,_,_).<br />
blockint(IB0_3,out,_,_).<br />
blockint(IB0_4,in,_,_).<br />
block(NAND1,[NAND1_1,NAND1_2,NAND1_3]).<br />
blockint(NAND1_1,out,_,_).<br />
blockint(NAND1_2,in,_,_).<br />
blockint(NAND1_3,in,_,_).<br />
block(NAND2,[NAND2_1,NAND2_2,NAND2_3]).<br />
blockint(NAND2_1,out,_,_).<br />
blockint(NAND2_2,in,_,_).<br />
blockint(NAND2_3,in,_,_).<br />
block(NAND3,[NAND3_1,NAND3_2,NAND3_3]).<br />
blockint(NAND3_1,out,_,_).<br />
blockint(NAND3_2,in,_,_).<br />
blockint(NAND3_3,in,_,_).<br />
wire(G1,[IB0_1,NAND1_2]).<br />
wire(G2,[IB0_2,NAND1_3,NAND2_2]).<br />
wire(G3,[IB0_3,NAND2_3]).<br />
wire(G6,[IB0_4,NAND3_1]).<br />
wire(wire1,[NAND1_1,NAND3_2]).<br />
wire(wire2,[NAND2_1,NAND3_3]).<br />
Figure 4.3: Un exemple de Base de Connaissances<br />
4.2.3.3 Detection et localisation de fautes<br />
Le processus de detection et celui de localisation de fautes a travers le circuit sous<br />
test constituent les deux t^aches principales de PESTICIDE en vue de l'etablissement<br />
de son diagnostic. Deux types de recherche sont eectues, les recherches de fautes sur<br />
les connexions et de fautes dans les blocs. Pour les connexions, il s'agit d'un processus<br />
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