TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 0. | Introduction |
L'apparition recente de la technologie MCM (\Multi-Chip Module" ou Circuit Multi-
Puces) qui consiste a regrouper sur le m^eme substrat plusieurs puces avec une forte
densite d'interconnexion, a conforte davantage l'idee que la solution a ces problemes
de test passe par l'adoption de l'approche de conception en vue du test (DFT pour
\Design For Testability"). Cette approche consiste a inclure la testabilite comme
contrainte lors de la phase de conception.
Parmi les dispositifs de DFT mis au point a ce jour, on notera que deux techniques
sont de plus en plus utilisees pour leur ecacite :
-latechnique du "Scan Path" qui permet d'acceder aux nuds internes du circuit
tout en limitant le nombre d'entrees/sorties supplementaires prevues a cet eet. Dans
ce concept, le circuit est concu de maniere apresenter deux modes de fonctionnement:
un mode de fonctionnement normal et un mode de test dans lequel toutes les bascules
elementaires sont interconnectees sous forme d'un ou de plusieurs registres a decalage.
Pour obtenir cette conguration, on remplace les bascules utilisees usuellement par
des bascules \scan" : ce sont des bascules disposant de deux entrees selectionnables
(par exemple en adoptant unmultiplexeur en entree de la bascule). Selon le mode
de fonctionnement, c'est soit l'entree test soit l'entree de mode de fonctionnement
normal qui est activee. En mode test, un vecteur est charge enserie a l'interieur des
bascules reliees entre elles pour former un registre a decalage. Apres retour au mode
de fonctionnement normal, le vecteur ainsi charge est transmis a l'interieur du circuit,
et le resultat obtenu modie ainsi le contenu des dierentes bascules du circuit. Une
fois le circuit stabilise, les valeurs presentes sur les bascules sont extraites du circuit
en mode serie, puis comparees a lareponse correcte attendue.
- La deuxieme technique utilisee est connue sous l'appellation d'auto,test integre
ou BIST (\Built-In Self-Test"). Elle consiste a integrer dans le circuit les mecanismes
necessaires a son propre test. Un exemple est celui de l'analyse de signature qui
consiste a inclure dans le circuit un generateur de stimuli pour produire des sequences
de test, et un analyseur de signature pour compacter et analyser les reponses du circuit
aux stimuli qui lui sont appliques.
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