TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 3. | Adaptation au cas des MCMs |
Parmi ces techniques, on notera le BIST et surtout le Boundary Scan qui semble
le plus approprie pour faciliter ces operations de test. Motorola a mis sur le marche
un outil base sur l'utilisation du standard 1149.1 pour le test des MCMs a l'aide
d'un testeur. Le logiciel comprend un generateur de vecteurs de test ainsi qu'un
generateur automatique de dictionnaire de fautes pour le test et diagnostic des MCMs.
Une autre solution utilisant les facilites oertes par le standard BS a ete proposee
dans [Zor92]. Dans ce papier, une solution au test des MCMs est decrite. Mais
cette solution repose sur la condition sine qua non que tous les modules incluent du
BIST et que le BS complet est implante sur le MCM. Or ce type de solution n'est
malheureusement pas toujours applicable actuellement. Ceci est d^u au fait que le
pourcentage de circuits integres incluant du BIST/Boundary Scan reste assez faible
(inferieur a 10% en 1992 [HaW92]), et que malgre l'evolution rapide du marche, on ne
peut raisonnablement tabler sur la disponibilite de tels circuits dans un avenir proche.
3.4 Adaptation de la methodologie au cas des MCMs
Pour les raisons invoquees precedemment, on peut logiquement penser que le marche
va passer par une etape intermediaire ou les MCMs seraient composes par deux types
de puces :
, (1) des puces munies du Boundary Scan (avec ou sans BIST)
, (2) des puces sans aucune methodologie de DFT
Dans ce cas, comme le montre la gure 3.6, on peut identier a l'interieur du MCMs
les composants munis du Boundary Scan, et les conglomerats (\clusters") reunissantle
reste des composants (sans BS). De cette maniere, le MCM pourra ^etre traite comme
une carte mixte au sens de la terminologie utilisee dans le chapitre 2.
Dans ce contexte, nous proposons une solution permettant de tirer prot des dispositifs
de test presents sur certaines puces pour le test du MCM complet. Il est bien
entendu que l'ecacite de cette solution sera proportionnelle au nombre de puces
munies de ces facilites de test.
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