TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 4
Approches en vue du Diagnostic
4.1 Introduction
Quand un systeme est reconnu defectueux, on se pose naturellement la question
de l'origine de la defaillance. Ainsi, la localisation des fautes pose le probleme essentiel
du diagnostic. En eet, il est tres important de faire proceder au diagnostic
dans les systemes electroniques. Au niveau des circuits, ceci permet d'en corriger
eventuellement la conception ou d'en ameliorer la fabrication an de minimiser
l'occurrence d'exemplaires defectueux. Au niveau des cartes, les fautes constatees
sont le plus souvent des fautes de contact : soit des contacts ouverts (rupture de
pistes ou soudure seche) ou des contacts parasites permanents (court,circuit entre
pistes, debordement de soudure entre plots ..). Dans ce cas, le diagnostic aura essentiellement
pour t^ache la localisation rapide et precise de la faute an de proceder a la
reparation. Au niveau systeme, le diagnostic a pour but de faciliter la maintenance
par la diminution de la duree de l'intervention sur site.
Dans le domaine du test, les progres accomplis au cours de la derniere decennie
sont spectaculaires. Ceci a debouche sur l'adoption du standard BS qui permet de
faciliter la gestion du test (mais aussi le diagnostic a un certain niveau) de systemes
tres complexes. Cependant, m^eme si des avancees signicatives ont ete realisees dans
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