TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Introduction
Les progres accomplis dans le domaine de l'integration font que l'on a aaire a des
circuits de plus en plus complexes, dont la taille est de plus en plus reduite et qui vont
servir a composer des cartes de plus en plus compactes. Ces circuits posent souvent
des problemes de testabilite, surtout s'ils sont hautement sequentiels. Pour ameliorer
leur testabilite et permettre d'eectuer le test a unco^ut raisonnable, le moyen le plus
adapte est de poser le probleme de la testabilite et de la maintenance des la phase de
conception du circuit.
Le probleme se pose de maniere similaire pour les cartes, etant donne qu'actuellement,
d'un c^ote l'encapsulation des circuits tend a devenir de plus en plus compacte, et d'un
autre c^ote, gr^ace notamment aux nouvelles techniques de montage des circuits sur les
plaques imprimees telle que la technique CMS (Composants Montes en Surface) qui
permet de monter les circuits sur les deux cotes de la carte, les carte electroniques deviennent
de plus en plus miniaturisees [Cou94]. Ceci pose donc le probleme d'acces aux
broches des circuits. L'utilisation de lits a clous ("bed of nails") devient extr^emement
dicile voire impossible a cause des risques de court-circuit au cours du contact testeur/broche,
et d'une facon generale des dommages qui peuvent ^etre occasionnes aux
circuits. Ces court-circuits peuvent s'averer aussi nefastes pour le dispositif a tester
que pour le testeur lui-m^eme s'il ne dispose pas de dispositif de protection.
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