TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 1. | L'approche "Boundary Scan" |
Mode_Control
Scan Out
Mode_Control
Scan Out
IN
0 S
M
UX
1
Q D
Q D
Qa
Qb
M
UX
0
S
1
Logique
Interne
0
1
S
M
U
X
M
Q D
Q D
U
0
Qa
Qb
X
S
1
OUT
Update_DR Clock_DR Shift_DR Scan In
Update_DR Clock_DR Shift_DR
Scan In
Figure 1.12: Conguration en mode test interne
1.3.3 Le test d'echantillonnage
C'est le troisieme mode de test, il permet de stocker a lavolee des donnees en
entree et en sortie des circuits supportant la norme IEEE 1149.1 (gure 1.13). Ces
donnees peuvent ^etre analysees pour verier le fonctionnement dynamique du circuit
(identication de fautes de delai par exemple). Ce mode de test n'aecte pas le mode
de fonctionnement normal du circuit car les donnees peuvent ^etre sorties pendant
que le systeme continue de fonctionner normalement. Ceci necessite neanmoins que
la circuiterie de scan ait ete concue de maniere a ne pas interferer avec le mode de
fonctionnement normal lorsqu'il y a transmission de donnees serie.
Mode_Control
Scan Out
Mode_Control
Scan Out
IN
0 S
M
1 X U
Q
D
Qa
Q
D
Qb
M
U
0
X
S
1
Logique
Interne
0 S
M
UX
1
Q D
Qa
Q
D
Qb
M
UX
0
S
1
OUT
Update_DR Clock_DR Shift_DR Scan In
Update_DR Clock_DR Shift_DR
Scan In
Figure 1.13: Conguration en mode echantillonnage
1.4 Strategie de test des cartes "Boundary scan"
Du point de vue testabilite des cartes, l'ideal serait de disposer de cartes munies du
dispositif Boundary Scan, et composees uniquement de circuits Boundary Scan. De
cette maniere tous les problemes de contr^olabilite et d'observabilite seraient resolus.
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