TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

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Introduction
Introduction Les progres accomplis dans le domaine de l'integration font que l'on a aaire a des circuits de plus en plus complexes, dont la taille est de plus en plus reduite et qui vont servir a composer des cartes de plus en plus compactes. Ces circuits posent souvent des problemes de testabilite, surtout s'ils sont hautement sequentiels. Pour ameliorer leur testabilite et permettre d'eectuer le test a uncoût raisonnable, le moyen le plus adapte est de poser le probleme de la testabilite et de la maintenance des la phase de conception du circuit. Le probleme se pose de maniere similaire pour les cartes, etant donne qu'actuellement, d'un côte l'encapsulation des circuits tend a devenir de plus en plus compacte, et d'un autre côte, grâce notamment aux nouvelles techniques de montage des circuits sur les plaques imprimees telle que la technique CMS (Composants Montes en Surface) qui permet de monter les circuits sur les deux cotes de la carte, les carte electroniques deviennent de plus en plus miniaturisees [Cou94]. Ceci pose donc le probleme d'acces aux broches des circuits. L'utilisation de lits a clous ("bed of nails") devient extrêmement dicile voire impossible a cause des risques de court-circuit au cours du contact testeur/broche, et d'une facon generale des dommages qui peuvent être occasionnes aux circuits. Ces court-circuits peuvent s'averer aussi nefastes pour le dispositif a tester que pour le testeur lui-même s'il ne dispose pas de dispositif de protection. {2 {
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Bibliographie
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